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        鎳基電沉積制備聚8-羥基喹啉薄膜

        2013-06-17 13:13:40劉小勤曾冬銘黃鳳祥劉中興
        電鍍與涂飾 2013年11期
        關(guān)鍵詞:鍍鎳喹啉伏安

        劉小勤,曾冬銘, *,黃鳳祥,劉中興

        (1.中南大學(xué)化學(xué)化工學(xué)院,湖南 長沙 410083; 2.中南大學(xué)有色金屬資源化學(xué)教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,湖南 長沙 410083; 3.特能寶化學(xué)原料有限公司,廣東 佛山 528000)

        目前電沉積法已廣泛運(yùn)用于制備新型聚合物[1-2]、納米材料[3-4]等。常用的電沉積方式有恒電位法、恒電流法、循環(huán)伏安法、計(jì)時(shí)電流法等,研究較多的單體有苯胺、苯酚及其衍生物、吡咯、噻吩、8-羥基喹啉等[5-12]。電鍍工業(yè)中,工件鍍鎳后往往需進(jìn)行封孔處理,以提高防腐性能。聚合物膜具有致密、平整的優(yōu)點(diǎn),能達(dá)到較好的封孔效果。本文研究了鎳基體上電沉積聚8-羥基喹啉的2 種方法──循環(huán)伏安法和恒電位法,通過金相顯微鏡、交流阻抗和Tafel 極化曲線表征了聚合物薄膜的形貌和耐蝕性能。

        1 實(shí)驗(yàn)

        1.1 基體預(yù)處理

        將5.00 cm × 0.80 cm × 0.05 cm 的鍍鎳工件浸入5%(質(zhì)量分?jǐn)?shù),下同)鹽酸溶液中浸泡10 min 以除銹,用去離子水洗后,置于5% NaOH 溶液中浸泡10 min以除油,用去離子水洗后吹干,待用。鍍鎳工件由特能寶化學(xué)原料有限公司提供,為不銹鋼片直接鍍鎳產(chǎn)品,且未進(jìn)行封孔處理。

        1.2 單體溶液的配制

        取500 mL 容量瓶,稱0.145 g 8-羥基喹啉、8 g 氫氧化鈉溶于蒸餾水,配成單體溶液,其中8-羥基喹啉的濃度為0.002 mol/L,氫氧化鈉濃度為0.4 mol/L[12]。

        1.3 電沉積聚8-羥基喹啉膜

        采用三電極體系,飽和甘汞電極(SCE)為參比電極,經(jīng)預(yù)處理的鍍鎳工件為工作電極,鉑電極為對電極。利用RST5200 電化學(xué)工作站(鄭州世瑞思儀器科技有限公司),以單體溶液為電解質(zhì),在室溫下進(jìn)行電沉積。循環(huán)伏安法的掃描速率為30 mV/s,從-0.2 V 掃描至0.7 V,共掃描4 個(gè)循環(huán)。恒電位沉積法在0.5 V 下沉積300 s。

        1.4 性能測定

        1.4.1 表面形貌

        采用數(shù)字式三維視頻顯微鏡 KH-7700(日本HIROX 公司生產(chǎn)),即金相顯微鏡,來觀察基體上鍍層的微觀圖像,從而對鍍層顆粒微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析。

        1.4.2 電化學(xué)測試

        采用三電極體系,飽和甘汞電極為參比電極,經(jīng)電沉積處理的鍍鎳工件為工作電極,鉑電極為對電極。利用RST5200 電化學(xué)工作站,室溫下測定交流阻抗和Tafel 曲線,介質(zhì)為3.5%的NaCl 溶液。交流阻抗曲線在開路電位下測定,頻率范圍為1 ~ 105Hz,交流振幅為0.01 V。Tafel 曲線測定的掃描速率為0.5 mV/s,對Tafel 曲線的陰極段和陽極段進(jìn)行線性擬合,可獲得腐蝕電位(φcorr)和腐蝕速率(vcorr),從而評定工件的耐腐蝕性能。

        2 結(jié)果與討論

        2.1 循環(huán)伏安法分析

        采用環(huán)伏安法在鍍鎳工件上電沉積,可得到淺黃色明亮光滑的聚8-羥基喹啉薄膜,圖1為其循環(huán)伏安曲線。

        圖1 循環(huán)伏安法制備聚8-羥基喹啉曲線 Figure 1 Curves for preparation of poly-8-hydroxyquinoline by cyclic voltammetric method

        從圖1可知,第1 個(gè)循環(huán)在0.563 V 附近出現(xiàn)氧化峰,此處為聚合物生成的反應(yīng);還原峰位于0.318 V,此處生成的聚合物又被還原為小分子物質(zhì)。隨掃描次數(shù)增多,氧化峰負(fù)移至0.481 V,后3 個(gè)循環(huán)氧化峰位置相近,這是因?yàn)榈? 個(gè)循環(huán)的電沉積是在基體表面進(jìn)行,隨后的電沉積則是在生成的聚合物表面繼續(xù)沉積,反應(yīng)更容易進(jìn)行。

        2.2 恒電位法分析

        電位是恒電位法沉積聚8-羥基喹啉的關(guān)鍵因素之一。電位過高,生成的薄膜疏松[13];若電位低于臨界聚合電位,則難以生成一定厚度的薄膜。參考循環(huán)伏安法的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,本工藝以0.5 V 為沉積電位。圖2反映了恒電位電沉積8-羥基喹啉聚合的動(dòng)力學(xué)過程。在0.5 V 電位下,電流在初始時(shí)突躍到0.02 mA,隨后急速下降至8.37 × 10-4mA,約20 s 后有微弱增大,之后隨時(shí)間推移,電流呈先減小后增大的趨勢,與聚吡咯的沉積情況類似[14]。8-羥基喹啉的聚合包括“成核”和“生長”2 個(gè)過程。最初電流突躍上升,一方面是由于電極界面電容器充電,另一方面是由單體的氧化電流引起。電容器瞬間充電完成后,充電電流消失,大大削弱了總電流;同時(shí)隨電極附近的單體被氧化,電極表面擴(kuò)散層厚度隨之增大,沉積反應(yīng)減慢,氧化電流減小,所以總電流下降。隨后聚8-羥基喹啉的成核過程會(huì)消耗大量被氧化的單體,使擴(kuò)散層變薄,反應(yīng)電流增大。電流的再一次下降對應(yīng)于聚8-羥基喹啉成核過程的完成,進(jìn)入薄膜的生長過程。隨薄膜生長,消耗氧化態(tài)單體的速率下降,擴(kuò)散層厚度增大,聚合電流降低。后期電流的小幅上升可能是因?yàn)橐焉傻木?-羥基喹啉發(fā)生氧化摻雜而產(chǎn)生氧化電流。

        圖2 恒電位法制備聚8-羥基喹啉的曲線 Figure 2 Curves for preparation of poly-8-hydroxyquinoline by potentiostatic method

        2.3 聚合物膜的表面形貌

        圖3為分別采用循環(huán)伏安法和恒電位法處理后鍍鎳工件的表面形貌。從圖3可知,恒電位法所得薄膜表面比循環(huán)伏安法電沉積所得薄膜表面更光滑。圖中的黑斑可能是基體不平導(dǎo)致局部成膜不均勻,成像衍射所致。

        圖3 采用不同方法電沉積所得聚8-羥基喹啉薄膜的表面形貌 Figure 3 Surface morphology of poly-8-hydroxyquinoline film electrodeposited by different methods

        2.4 交流阻抗分析

        根據(jù)文獻(xiàn)[15],交流阻抗的等效電路如圖4所示,RL為溶液電阻,ZF、Cd分別表示研究電極界面的法拉第阻抗和雙電層電容。對測得的交流阻抗譜圖數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合,結(jié)果見圖5,表1為對應(yīng)的擬合參數(shù)。

        圖4 交流阻抗的等效電路 Figure 4 Equivalent circuit of alternating current impedance

        圖5 不同試樣的Nyquist 圖 Figure 5 Nyquist plots of different samples

        表1 交流阻抗譜圖擬合參數(shù) Table 1 Fitted parameters of alternating current impedance spectra

        從圖5可知,電極反應(yīng)在整個(gè)頻率范圍內(nèi)以擴(kuò)散控制為主[16],處理后工件的圓弧半徑增大,表明工件表面沉積的聚合物阻礙了界面的電荷轉(zhuǎn)移[17]。另外,實(shí)測曲線與擬合的曲線較為相似,表明所選的等效電路符合實(shí)驗(yàn)情況。表1的擬合參數(shù)表明,電沉積處理后ZF明顯增大,且恒電位法處理后增大的幅度更大,說明恒電位法電沉積所得膜層更具有阻礙電荷轉(zhuǎn)移的能力,膜層較完整和穩(wěn)定,這與金相顯微鏡的觀測結(jié)果一致。

        2.5 Tafel 極化曲線分析

        圖6為采用不同方法電沉積所得試樣在3.5% NaCl溶液中的Tafel 極化曲線,表2為對應(yīng)的擬合參數(shù)。

        圖6 不同試樣的Tafel 曲線 Figure 6 Tafel curves for different samples

        表2 Tafel 極化曲線擬合參數(shù) Table 2 Fitted parameters of Tafel curves

        電沉積處理后,鍍鎳工件的腐蝕電位從-0.430 4 V正移到-0.29 V 附近,腐蝕速率下降了2 個(gè)數(shù)量級,耐蝕性得到明顯改善。兩種電沉積方式所得工件的腐蝕電位接近,但恒電位法處理后工件的腐蝕速率僅為循環(huán)伏安法的1/2。綜合評價(jià)之下,前者的耐腐蝕性能更佳,這與金相顯微鏡及交流阻抗測試結(jié)果一致。

        3 結(jié)論

        (1) 分別采用循環(huán)伏安法和恒電位法在鍍鎳工件上電沉積制備了聚8-羥基喹啉薄膜。循環(huán)伏安法電沉積聚8-羥基喹啉的氧化電位為0.563 V(第一個(gè)循環(huán))和0.481 V(后3 個(gè)循環(huán)),還原峰位于0.318 V。恒電位法電沉積聚8-羥基喹啉包含聚合物成核和長大2 個(gè)過程。

        (2) 與循環(huán)伏安法電沉積所得聚8-羥基喹啉薄膜相比,恒電位法電沉積所得聚8-羥基喹啉薄膜更平整,耐蝕性更好。

        (3) 聚8-羥基喹啉薄膜增大了基體表面的電荷轉(zhuǎn)移電阻,隔絕了腐蝕介質(zhì),從而有效增強(qiáng)了鎳基體的耐蝕性。

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