最先進(jìn)的基于TWave離子淌度技術(shù)的高清質(zhì)譜系統(tǒng)，科學(xué)研究的理想之選美國明尼阿波利斯 2013年6月10日沃特世公司（NYSE：WAT）今天于美國質(zhì)譜年會(huì)（ASMS）上發(fā)布了最新 WatersSYNAPTG2Si 質(zhì)譜系統(tǒng)。公司還發(fā)布了基于UNIFI軟件平臺的CCS軟件，用于分子在氣相條件下碰撞橫截面積相關(guān)研究，同時(shí)還推出了用于組學(xué)研究的TransOmics 2.0版信息學(xué)軟件，該軟件配合新的SYNAPT G2Si 質(zhì)譜，在小分子領(lǐng)域的不同應(yīng)用以及生命科學(xué)研究的“組學(xué)”領(lǐng)域具有獨(dú)特的優(yōu)勢。

SYNAPT G2Si 質(zhì)譜儀為靶向的和非靶向的LC/MS/MS分析流程帶來了第三個(gè)維度的分辨率和分離能力，能夠?yàn)檠芯咳藛T提供更多的數(shù)據(jù)信息，以幫助了解更深層次的分子生物學(xué)和疾病機(jī)理，并幫助開發(fā)下一代疾病治療方法和藥物；也可以為食品及環(huán)境樣品中污染物的篩查提供新的思路。SYNAPT G2Si 整合了能力非凡的行波（TWave）離子淌度分離技術(shù)、數(shù)據(jù)采集以及信息學(xué)技術(shù)，且可用于最嚴(yán)格的氣相碰撞橫截面積（CCS）測量，因此，此系統(tǒng)提供的信息量和數(shù)據(jù)可信度遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越了傳統(tǒng)的質(zhì)譜技術(shù)和色譜技術(shù)。

SYNAPT G2Si質(zhì)譜儀是第一款同時(shí)將氣相碰撞橫截面積（CCS）、保留時(shí)間和荷質(zhì)比（m/z）三個(gè)參數(shù)作為分子的定性參數(shù)用于篩查研究，為基于數(shù)據(jù)庫的篩查研究提供了又一個(gè)穩(wěn)定、可靠的定性參數(shù)。

事實(shí)證明： 基于TWave離子淌度技術(shù)的質(zhì)譜技術(shù)將幫助研究實(shí)驗(yàn)室獲得更好的科研成就，今年2月份的International Journal of Ion Mobility Spectrometry雜志發(fā)表了兩期TWave離子淌度技術(shù)?？?，其中包含了13篇全球頂級的科學(xué)家撰寫的科研論文。