晶片倒邊對晶體性能影響淺析
2012-12-31 00:00:00杜敏吳敬軍
【摘 要】本文根據(jù)實(shí)踐數(shù)據(jù)，簡要分析了AT切型SMD晶片滾筒倒邊（又稱圓邊）參數(shù)與X’tal一些主要技術(shù)性能之間的相關(guān)性，探討了倒邊工序工序產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控方法和通過調(diào)整倒邊參數(shù)改善部分X’tal技術(shù)指標(biāo)可能。
【關(guān)鍵詞】倒邊量；晶體
