丁淑敏,李春雷,劉洲峰,黎小靜
(中原工學(xué)院,鄭州450007)
織物缺陷是影響織物質(zhì)量的主要因素.一般來講,若產(chǎn)品出現(xiàn)一個(gè)缺陷,其價(jià)格將降為正常價(jià)格的一半左右,因此,織物缺陷檢測(cè)是生產(chǎn)中的一個(gè)關(guān)鍵環(huán)節(jié).傳統(tǒng)的織物缺陷檢測(cè)由人工完成,這是一項(xiàng)繁重的重復(fù)性工作;長(zhǎng)時(shí)間的觀測(cè),容易造成視覺疲勞及漏檢率與錯(cuò)檢率上升.研究表明,當(dāng)織物運(yùn)動(dòng)速度大于30m/min或幅寬大于2m時(shí),即使最熟練的驗(yàn)布工人,也只能檢測(cè)其中60%左右的缺陷.隨著紡織生產(chǎn)自動(dòng)化程度的提高,生產(chǎn)速度也不斷提高,從而對(duì)織物的缺陷檢測(cè)提出了更高的要求.因此,研發(fā)一種快速、高精度的織物缺陷自動(dòng)檢測(cè)算法或技術(shù),成為紡織品檢測(cè)的重要課題.
目前,織物缺陷檢測(cè)算法主要分為三大類[1]:
(1)基于模型的方法.該類方法計(jì)算量大,實(shí)現(xiàn)復(fù)雜,特別是在線檢測(cè)困難,目前已很少研究[2];
(2)基于譜分析的方法.主要包括離散傅里葉變換、Gabor變換、小波變換等方法.該類方法通過時(shí)頻分析來突出并檢測(cè)缺陷,但時(shí)頻變換操作會(huì)降低檢測(cè)速度,因此,目前很難直接應(yīng)用到在線檢測(cè)中[3-5];
(3)基于統(tǒng)計(jì)的方法.主要包括邊緣檢測(cè)、形態(tài)學(xué)操作、共生矩陣、局部線性變換等方法.該類方法僅能對(duì)特定織物表面上有限類別的織物缺陷進(jìn)行檢測(cè)[6-8],但在分析織物圖像的特征進(jìn)而判斷其是否含有缺陷方面具有較快的速度.目前,該類算法在織物圖像統(tǒng)計(jì)特征的描述上還未能充分考慮織物圖像的紋理特征,對(duì)不同分辨率的織物圖像的自適應(yīng)能力較弱.
本文依據(jù)織物圖像紋理特征,提出了一種基于多分辨率的改進(jìn)LBP特征的檢測(cè)算法,并利用支撐向量機(jī)(SVM)對(duì)圖象塊進(jìn)行分類,取得了良好的檢測(cè)效果.
本算法是基于圖像塊進(jìn)行處理的,其結(jié)構(gòu)如圖1所示.首先構(gòu)造訓(xùn)練集,包括正樣本集和負(fù)樣本集,分別由正常的圖像塊和含有缺陷的圖像塊構(gòu)成;從圖像塊中提取改進(jìn)的LBP特征,加上相應(yīng)的類標(biāo)后構(gòu)造特征向量;采用SVM訓(xùn)練出分類器.在測(cè)試過程中,首先對(duì)被測(cè)織物圖像進(jìn)行分塊,然后提取圖像塊的改進(jìn)LBP特征,利用SVM分類器將圖像塊分為正常的圖像塊和含缺陷的圖像塊.由于本算法將圖像進(jìn)行分塊處理且每一個(gè)圖像塊都具有坐標(biāo),故在判斷每一個(gè)圖像塊是否含有缺陷的同時(shí),實(shí)現(xiàn)了對(duì)缺陷按塊定位,便于快速確定缺陷位置并進(jìn)行相應(yīng)的后續(xù)處理.
圖1 算法結(jié)構(gòu)
LBP可以有效地描述圖像的紋理特征,被廣泛應(yīng)用于人臉識(shí)別、紋理圖像分割、視頻跟蹤等領(lǐng)域.LBP的原理是:將鄰域作為一個(gè)處理單元,比較鄰域像素與中心像素的灰度大小,如鄰域像素的灰度大于中心像素的灰度,則將對(duì)應(yīng)鄰域像素置1,否則置0,從而得到一串二進(jìn)制序列;為每一位二進(jìn)制分配一個(gè)權(quán)重因子2i,其中i為二進(jìn)制位的位標(biāo),這樣,LBP算子就從一個(gè)二進(jìn)制序列轉(zhuǎn)換為一個(gè)十進(jìn)制數(shù),如式(1).由此得出相應(yīng)的直方圖即為L(zhǎng)BP紋理特征:
式中:P表示鄰域中元素個(gè)數(shù);R表示鄰域半徑;gp表示鄰域像素的灰度值;gc表示中心像素的灰度值;
上述傳統(tǒng)的LBP算子僅考慮了鄰域像素灰度和中心像素灰度的大小關(guān)系,而丟失了鄰域像素灰度與中心像素灰度的差值信息.本文同時(shí)考慮像素間灰度的大小關(guān)系和差值信息.改進(jìn)的LBP算子描述如下.
首先求出中心像素灰度和鄰域像素灰度之間的差值,并把差值分為符號(hào)及幅度值2部分,分別標(biāo)記為CLBP_S和CLBP_M(jìn),如圖2所示.其中CLBP_S與式(1)中定義的傳統(tǒng)LBP算子相同.對(duì)于幅度值M,不能直接編碼為二進(jìn)制,可將其定義為式(2):
考慮到中心像素也能提供有用的信息,為使CLBP_S和CLBP_M(jìn)統(tǒng)一,將中心像素的特征定義為式(3):
最后求出改進(jìn)LBP的3個(gè)部分,即CLBP_S、CLBP_M(jìn)及CLBP_C,然后分別得出它們對(duì)應(yīng)的直方圖并構(gòu)造出一維特征向量,作為該圖像塊的LBP特征.
圖2 織物圖像樣本的局部灰度差值分解
由于利用不同的采集設(shè)備獲得的織物圖像分辨率各不相同,故檢測(cè)算法要適應(yīng)不同圖像的分辨率要求.本文采用視覺及層次結(jié)構(gòu)的金字塔模型,如圖3所示.將視覺的多層次結(jié)構(gòu)引入到檢測(cè)算法中,求出不同分辨率下的改進(jìn)LBP特征,然后組合構(gòu)造出新的LBP特征,能夠提高算法對(duì)織物圖像分辨率的自適應(yīng)能力.
圖3 視覺多層次結(jié)構(gòu)的金字塔模型
使用SVM方法,首先定義最優(yōu)線性超平面,并把尋找最優(yōu)線性超平面的算法歸結(jié)為求解一個(gè)凸規(guī)劃問題,進(jìn)而基于Mercer核展開定理,通過非線性映射?,把樣本空間映射到一個(gè)高維乃至無窮維的特征空間(Hilbert空間),使得在特征空間中可以運(yùn)用線性學(xué)習(xí)機(jī)的方法解決樣本空間中高度非線性分類和回歸等問題.
本文采用SVM對(duì)織物圖像進(jìn)行二元分類,判斷其是否含有缺陷.首先給出訓(xùn)練集{x1,x1,…,xn},其中X?Rd;然后,給出相應(yīng)的類標(biāo){y1,y2,…,yn},其中yi∈{-1,1}.在二元分類中,SVM將訓(xùn)練集分成2類最大超平面,處在超平面兩邊的樣本類標(biāo)分別為+1和-1,其中訓(xùn)練樣本中距離超平面最近的樣本被稱為支持向量.一般情況下,支持向量機(jī)通過Mercer核算子K把樣本空間X的原始訓(xùn)練數(shù)據(jù)映射到具有更高維度的特征空間F中,即按照如下形式來設(shè)定分類器:
當(dāng)K 滿足 Mercer條件時(shí),K(u,v)=?(u)·?(v),其中,?(u):X→F;“·”表示內(nèi)積.可以將式(4)重新描述為:
為了驗(yàn)證本算法的性能,選用大小為512×512的2類織物圖像,如圖4所示.其中,圖4(a)為一種平紋布,含有劈縫缺陷;圖4(c)為一種斜紋布,含有漏洞缺陷.使用MATLAB2010進(jìn)行編程實(shí)現(xiàn).
首先,構(gòu)建2個(gè)訓(xùn)練組:正樣本集和負(fù)樣本集.一個(gè)樣本集有500個(gè)樣本,每個(gè)樣本大小為32×32的圖像塊.采用SVM訓(xùn)練出相應(yīng)的分類器.
然后,將測(cè)試圖像劃分為互相重疊的大小為32×32的圖像塊,其中圖像塊每次向右或向下的滑動(dòng)步長(zhǎng)為8個(gè)像素.針對(duì)每一個(gè)圖像塊,利用分類器進(jìn)行判斷,如果它為正常的圖像塊,保持不變;如果它為有缺陷的圖像塊,則將該圖像塊所有像素值置零.圖4(b)和圖4(d)分別是圖4(a)和圖4(c)的檢測(cè)結(jié)果.由圖4可見,缺陷區(qū)域幾乎都能被準(zhǔn)確地定位,其中圖4(b)顯示仍有少量錯(cuò)檢,可能與訓(xùn)練集的構(gòu)造有關(guān);圖4(d)則顯示具有較好的檢測(cè)效果.
圖4 織物圖像及其檢測(cè)結(jié)果
本文結(jié)合織物圖像的紋理特征提出了一種基于多分辨率的改進(jìn)LBP特征的織物缺陷檢測(cè)算法.該算法對(duì)光照、尺度變換及平移具有不變性;SVM的良好分類性能可有效地提高缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確率.實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明了該算法的有效性.該算法簡(jiǎn)單實(shí)用,可應(yīng)用于在線織物缺陷檢測(cè).
[1]Kumar A.Computer Vision-based Fabric Defect Detection:A Survey[J].IEEE Transaction on Industrial Electronics,2008,55(1):348-363.
[2]Cohen F S,F(xiàn)an Z,Attali S.Automated Inspection of Textile Fabrics Using Textural Models[J].IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence,1991,13(8):803-808.
[3]Mak K L.Peng P,An Automated Inspection System for Textile Fabrics Based on Gabor Filters[J].Robotics and Computer-integrated Manufacturing,2008,24(3):359-369.
[4]Zhang Y,Lu Z,Li J.Fabric Defect Detection and Classification Using Gabor Filters and Gaussian Mixture Model[J].Lecture Notes in Computer Science,2010,5995:635-644.
[5]Srikaew1A,Attakitmongcol K,Kumsawat P,et al.Detection of Defect in Textile Fabrics Using Optimal Gabor Wavelet Network and Two-dimensional PCA[J].Lecture Notes in Computer Science,2011,6939:436-445.
[6]鄒超,朱德森,肖力.基于模糊類別共生矩陣的紋理缺陷檢測(cè)方法[J].中國圖象圖形學(xué)報(bào),2007,12(1):92-97.
[7]Tajeripor F,Kabir E,Sheikhi A.Fabric Defect Detection Using Modified Local Binary Patterns[J].EURASIP Journal on Advances in Signal Processing,2008:783898:1-12.
[8]Guo Z H,Zhang L,Zhang D.A Completed Modeling of Local Binary Pattern Operator for Texture Classification[J].IEEE Transactions on Image Processing,2010,19(6):1657-1663.