陳海念, 鄭杜建, 覃愛(ài)苗
(1. 皇明太陽(yáng)能工程技術(shù)學(xué)院,山東 德州 253000; 2. 中石化石油工程技術(shù)研究院 德州石油鉆井研究所,山東 德州 253005; 3. 桂林理工大學(xué) 材料與科學(xué)工程學(xué)院,廣西 桂林 541004)
硫化鎘(CdS)禁帶寬度為2.4 eV,能夠吸收波長(zhǎng)小于520 nm的紫外和可見(jiàn)光,與太陽(yáng)光譜較近。純CdS在水溶液中易光腐蝕、穩(wěn)定性較差,使其應(yīng)用受到限制。CdS是良好的高純度半導(dǎo)體,可廣泛應(yīng)用于制備玻璃釉、焰火、發(fā)光材料、瓷釉、油漆、紙、橡膠和玻璃等的顏料。采用新興的納米技術(shù)將CdS納米化以后,CdS納米材料會(huì)具備一種特殊的性質(zhì),這種性質(zhì)既有別于體相材料又有別于單個(gè)分子的性質(zhì)。CdS的量子尺寸效應(yīng)能使其本身的能級(jí)改變、能隙變寬,顏色變化(吸收和發(fā)射光譜向短波方向移動(dòng))。當(dāng)CdS的尺寸變?yōu)? nm~6 nm時(shí),顏色由黃色變成淺黃色也引起表面電子自旋構(gòu)象和電子能譜的變化,對(duì)其光學(xué)、光化學(xué)、電學(xué)及非線性光學(xué)性質(zhì)等具有重要影響。CdS納米材料可廣泛應(yīng)用于催化、磁性材料、非線性光學(xué)等新材料領(lǐng)域。隨著CdS納米粒子的尺寸由分子水平到宏觀量子水平的變化,其禁帶寬度可在2.5 eV~4.5 eV變化。
本文報(bào)道CdCl2與S在N,N-二甲基甲酰胺(DMF)中制備納米CdS薄膜(1),其結(jié)構(gòu)經(jīng)FL, UV, XRD, SEM和IV表征。n(CdCl2) ∶n(S)=0.065 ∶0.010,反應(yīng)電壓5 V,于80 ℃(水浴溫度)反應(yīng)5 min制得CdS薄膜的光電性能、穩(wěn)定性及薄膜結(jié)構(gòu)均較好。
KW-4A UV-2450型紫外光譜儀(UV); PE CHB-16G LS-55型熒光光譜儀(FL); X′Pert PRO型X-射線衍射儀(XRD); JEOL JSM-5610LV型掃描電子顯微鏡(SEM); Model LK98BⅡ型電化學(xué)工作站。
CdCl2·2H2O,分析純,國(guó)藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司;S,分析純,汕頭市西隴化工有限公司;蒸餾水,實(shí)驗(yàn)室自制;其余所用試劑均為分析純。
將導(dǎo)電玻璃和石墨電極用蒸餾水、酒精超聲波清洗,吹干備用。
在燒杯中按n(CdCl2) ∶n(S)=0.065 ∶0.01加入CdCl2·2H2O和S[(1.0~6.5)×10-4mol], DMF 10 mL~15 mL;用石墨電極作陽(yáng)極,導(dǎo)電玻璃作陰極,在2 V~8 V于70 ℃~80 ℃恒壓電沉積3 min~10 min。于60 ℃~80 ℃真空干燥5 min~20 min;置馬弗爐中升溫(60 ℃·min-1)至260 ℃~300 ℃,恒溫焙燒1 h~2 h。自然冷卻至室溫得黃色薄膜1。
以DMSO替代DMF,用類似方法制備淡黃色薄膜1′。
圖1為1的XRD譜圖。由圖1可見(jiàn),1的衍射峰可以依次指標(biāo)化為六方相CdS的(002), (110), (103)和(112)晶面(與ICDD-JCPDS卡No.77-2306相符)。其中(002)晶面的衍射峰很強(qiáng),說(shuō)明1在(002)晶面上具有擇優(yōu)取向。對(duì)于這種現(xiàn)象,K Senthil等[1]在423 K時(shí)采用真空蒸發(fā)法在玻璃基板上制備硫化鎘納米薄膜,XRD分析硫化鎘薄膜處于六方相,且在(002)晶面上有擇優(yōu)取向。說(shuō)明硫化鎘納米薄膜的生長(zhǎng)條件對(duì)晶相結(jié)構(gòu)產(chǎn)生很大影響。
2θ/(°)圖 1 1的XRD譜圖Figure 1 XRD spectrum of 1
圖 2 1的SEM照片F(xiàn)igure 2 SEM picture of 1
圖 3 1的AFM照片F(xiàn)igure 3 AFM picture of 1
1的SEM照片見(jiàn)圖2。從圖2可以看出,薄膜的表面均勻、平整,膜層厚度約為132 nm~168 nm,由粒徑為100 nm~200 nm的球形微粒組成。
1的能譜掃描(EDS)分析結(jié)果表明,1含元素S和Cd,其原子數(shù)之比為1.18 ∶1.00,硫的含量偏高,這是由于電化學(xué)反應(yīng)生成的S2-濃度擴(kuò)散造成的,其他元素如Si, K, Ca由導(dǎo)電玻璃引入。
1(沉積電壓5 V)的原子力顯微(AFM)照片見(jiàn)圖3。由圖3可見(jiàn),1的顆粒尺寸變化不大,表面比較平整,膜厚在25 nm以內(nèi)[2]。
圖4為1的UV譜圖。根據(jù)圖4及公式[λg(nm)=1240/Eg(帶隙能/eV)]可計(jì)算出1的Eg約為2.48 eV。與塊體硫化鎘的Eg(2.4 eV)[3]相比增加0.08 eV,出現(xiàn)了紅移。
λ/nm圖 4 1的UV譜圖Figure 4 UV spectrum of 1
B Ullrich等[4]討論了不同形成條件下的納米CdS薄膜的紫外和近紅外脈沖。J Hiie等[5]的研究結(jié)果表明,沉積后CdS薄膜的電阻降低;以CVD(化學(xué)氣相沉積法)法制備CdS薄膜的退火Eg為2.42 eV~2.51 eV;采用噴涂制備CdS薄膜的Eg沒(méi)有變化。
室溫下1和1′的熒光激發(fā)和發(fā)射光譜見(jiàn)圖5。從圖5可以看出,1和1′的最大激發(fā)峰(λex)均位于373 nm,最大發(fā)射峰(λem)位于417 nm(2.93 eV),為紫光發(fā)射,起源于寬帶隙(2.5 ev)CdS的帶間復(fù)合發(fā)光[6]。1和1′的發(fā)射峰峰型較為對(duì)稱,表明其納米晶核尺寸分布均勻,單分散性較好;未見(jiàn)表面態(tài)發(fā)射帶(即自陷阱態(tài)或者缺陷態(tài)的發(fā)射),說(shuō)明其納米晶的有序度很好,表面無(wú)缺陷或少有缺陷。
λ/nm
λ/nm圖 5 1和1′的FL譜圖(狹縫5.0 nm)Figure 5 FL spectra of 1 and 1′
圖 6 光電測(cè)試示意圖Figure 6 Schematic of photoelectric test system
為了研究1的光電性能,采用如圖6所示的裝置進(jìn)行測(cè)試。以氙燈為外照光源,通過(guò)電化學(xué)工作站測(cè)試1的光電響應(yīng)圖,使用單色儀分光后測(cè)量電池的光電轉(zhuǎn)化率。光電極作為工作電極,Ag/AgCl電極為參比電極,鉑絲為對(duì)電極,光照面積為0.5 cm×0.5 cm,入射光強(qiáng)標(biāo)定為100 mW·cm-2,入射光從透過(guò)用石英玻璃制成的三電極電解池照在光電極上,0.5 mol·L-1NaS溶液為電解質(zhì),電壓測(cè)量速率10 V·s-1,以配有球形過(guò)濾器AM 1.5的Xe燈(Oriel, 500 W)為太陽(yáng)能模擬光源。
1的光電響應(yīng)圖和光電轉(zhuǎn)化率圖分別見(jiàn)圖7和圖8。從圖7可以看出,1對(duì)光反應(yīng)較靈敏,1的有效面積為0.69 cm2。圖8展示了光電和暗電流的強(qiáng)度,在Xe燈照射下,1光電池的開(kāi)路電壓Voc=873 mV,短路電流Jsc=0.69 mA·cm-2,填充因子FF=0.32,能量轉(zhuǎn)換效率(η)為0.193%。
Time/s圖 7 1光電極的瞬態(tài)光電流Figure 7 Transient photocurrent of 1 electrode
Potential/V vs Ag/AgCl圖 8 1的光電轉(zhuǎn)化率圖Figure 8 Photovoltaic conversion rate graph of 1
為了檢測(cè)薄膜與基體的附著情況(即薄膜的牢固程度),將1置燒杯中,加適量水后用超聲波分別震蕩5 min, 10 min和30 min。結(jié)果表明,樣品幾乎沒(méi)有什么變化,圖9為1超聲前和超聲30 min后的SEM照片,兩圖幾乎沒(méi)有差別,說(shuō)明1的牢固性較高。
圖 9 1的SEM照片*Figure 9 SEM images of 1*A:未經(jīng)超聲處理, B:超聲30 min
制備1的最佳條件為:n(CdCl2) ∶n(S)=0.065 ∶0.010, DMF為溶劑,反應(yīng)電壓5 V,于80 ℃反應(yīng)5 min。XRD分析結(jié)果表明,1在(002)晶面上有擇優(yōu)取向,衍射峰可以依次指標(biāo)化為六方相CdS的(002), (110), (103)和(112)晶面;利用AFM觀察1的厚度約為25 nm,顆粒尺寸均勻;1具有較好的光電性能,UV分析表明,1帶隙能約為2.4 eV;光電性能測(cè)試表明,1對(duì)光反應(yīng)較靈敏,光電轉(zhuǎn)換率高(0.193%)。
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