高功放高壓聯(lián)鎖電路改進(jìn)與測試
2012-11-19 07:17:52金華松邱冬冬劉斯亮
現(xiàn)代電子技術(shù) 2012年19期
金華松 邱冬冬 劉斯亮
摘要：高壓聯(lián)鎖性能的好壞直接影響設(shè)備能否正常工作。通過分析CPI高功放(HPA)的延時(shí)加高壓程序、高壓聯(lián)鎖電路和交流延時(shí)器工作原理，研究出一種新改進(jìn)的高壓聯(lián)鎖電路方案和用于交流延時(shí)器的測試方法。分析闡述表明，該方案和測試方法克服了CPI高功放的高壓聯(lián)鎖方案的弊端。另外，根據(jù)分析結(jié)果設(shè)計(jì)了延時(shí)測試電路，它可對交流延時(shí)器性能參數(shù)進(jìn)行定量測試。
關(guān)鍵詞：CPI; 高功放; 高壓聯(lián)鎖; 交流延時(shí)器
中圖分類號(hào)：TN913.31+334； TM133 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1004373X(2012)19015503
