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        電磁干擾測試面臨的挑戰(zhàn)和實(shí)時(shí)技術(shù)

        2012-07-14 07:57:58黃坤超
        中國測試 2012年4期
        關(guān)鍵詞:測量信號(hào)

        黃坤超

        (中國西南電子技術(shù)研究所,四川 成都 610036)

        0 引 言

        回顧無線技術(shù)的發(fā)展,從第一次進(jìn)行無線傳輸開始,設(shè)計(jì)工程師就一直關(guān)注電磁干擾(electro magnetic interference,EMI)。隨著無線通信領(lǐng)域不斷發(fā)展,如蜂窩系統(tǒng)、衛(wèi)星系統(tǒng)、廣播系統(tǒng)和其他系統(tǒng),形成了一個(gè)非常復(fù)雜的電磁環(huán)境[1]。電子設(shè)備間相互干擾概率進(jìn)一步提升,為了規(guī)范和統(tǒng)一干擾的程度,法規(guī)機(jī)構(gòu)已經(jīng)確立了EMI的限制,并且規(guī)定了符合性測試中使用的測量方法。如CISPR平均方法和準(zhǔn)峰值檢波器[2-3],這些測量技術(shù)旨在對人的耳朵和眼睛分別接收聲音和視頻時(shí)提供可以接受的干擾水平。

        隨著復(fù)雜的數(shù)字調(diào)制方式和高帶寬信號(hào)的出現(xiàn),以及嵌入式射頻(radio frequency,RF)電路的大規(guī)模應(yīng)用,產(chǎn)品的集成度越來越高。例如,對于短時(shí)間的偶發(fā)強(qiáng)干擾信號(hào)(幅度高),其在頻域占用帶寬寬。這樣的脈沖信號(hào),對廣播模擬無線傳輸?shù)挠绊懣梢院雎圆挥?jì),但在數(shù)字系統(tǒng)中會(huì)導(dǎo)致整個(gè)數(shù)據(jù)包丟失,或堵塞相鄰的信號(hào)系統(tǒng)。但是,受到現(xiàn)有EMI測量方法和設(shè)備的限制,很難在頻域中捕獲到它。這樣,很可能產(chǎn)品的電磁兼容(electro magnetic compatibility,EMC)測試是通過的,但是產(chǎn)品卻受到“不明干擾信號(hào)”而無法正常使用。

        近年來,實(shí)時(shí)頻譜分析技術(shù)越來越得到市場的認(rèn)可,主要因?yàn)樗鉀Q了長期困擾人們的瞬態(tài)信號(hào)和同頻信號(hào)的捕獲和分析的問題。特別在EMI測試中,對偶發(fā)信號(hào)和同頻干擾信號(hào)能夠有效地觀測和分析,較好地解決當(dāng)前EMI測試中的問題。

        本文將從結(jié)構(gòu)和功能上,論證在EMI測試中,實(shí)時(shí)技術(shù)相對于傳統(tǒng)技術(shù)的特點(diǎn)。

        1 硬件結(jié)構(gòu)

        在平時(shí)工作中,接觸最多的是使用掃描頻譜分析儀進(jìn)行EMI的診斷和預(yù)測試;因此,主要對傳統(tǒng)掃描頻譜和實(shí)時(shí)頻譜硬件結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析[4-5],如圖1。兩者的RF前端組成基本相同,變頻單元都采用超外差式,最大的區(qū)別在于中頻(intermediate frequency,IF)單元處理以及頻譜實(shí)現(xiàn)方式,具體區(qū)別如下:

        (1)掃描式頻譜儀本振采用鋸齒波發(fā)生器,控制本振實(shí)現(xiàn)線性掃描,每一個(gè)時(shí)間只對應(yīng)一個(gè)頻點(diǎn)的測量值;而實(shí)時(shí)頻譜由于采用FFT方式實(shí)現(xiàn),起本振為點(diǎn)頻方式。

        (2)掃描式頻譜儀采用窄帶IF濾波方式,實(shí)現(xiàn)對信號(hào)的高選擇性,這種結(jié)構(gòu)容易破壞信號(hào)測量的完整性;而實(shí)時(shí)頻譜采用寬帶IF(例如110MHz帶寬濾波器)濾波方式,再配合高速、高動(dòng)態(tài)(300 MS/s,14bit)ADC,最大程度保存信號(hào)的完整性。

        (3)掃描式頻譜分析儀采用檢波方式實(shí)現(xiàn)信號(hào)的功率測量,檢波器的特性決定了對信號(hào)功率的捕獲能力和測量精度;實(shí)時(shí)頻譜分析儀的采用FFT和DSP技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)對信號(hào)實(shí)時(shí)的捕獲和精確測量。

        (4)實(shí)時(shí)FFT模塊。實(shí)時(shí)頻譜采用高速FPGA實(shí)現(xiàn)硬件FFT過程,速度達(dá)到292 000次/s,對微秒級(jí)的信號(hào)能夠做到100%捕獲。

        圖1 掃描式頻譜儀(上)與實(shí)時(shí)頻譜(下)結(jié)構(gòu)框圖

        從以上4個(gè)方面,可以看出實(shí)時(shí)頻譜分析技術(shù)在系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上,充分考慮到了信號(hào)觀測的完整性和精度的要求。實(shí)時(shí)頻譜儀一般中頻帶寬在25MHz以上,借助實(shí)時(shí)FFT技術(shù),在實(shí)時(shí)帶寬內(nèi)實(shí)現(xiàn)對偶發(fā)和同頻信號(hào)的捕獲。圖2是利用實(shí)時(shí)頻譜技術(shù),對電器開關(guān)瞬間噪聲和雜散的測量結(jié)果。從圖中能夠分辨出偶發(fā)的寬帶噪聲(藍(lán)色),以及雜散信號(hào)分布(紅色)。實(shí)時(shí)頻譜用顏色(色溫)表示不同信號(hào)出現(xiàn)的概率,信號(hào)持續(xù)時(shí)間越長,顏色越紅(熱),反之就越黑(冷色)。相對于掃描式頻譜分析,多了一維概率信息(相對時(shí)間信息),正是從這個(gè)重要點(diǎn)切入更全面測量EMI特性。

        2 EMI測試中使用的檢波方法及缺陷

        圖2 開關(guān)電源開機(jī)瞬間噪聲和雜散測量結(jié)果

        許多商用EMI測量標(biāo)準(zhǔn),都是由國際無線電標(biāo)準(zhǔn)委員會(huì)(international special committee on radio interference,CISPR)規(guī)定,它是國際標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)——國際電氣技術(shù)委員會(huì)(IEC)下屬的一家技術(shù)機(jī)構(gòu)[6]。而其他標(biāo)準(zhǔn)和認(rèn)證機(jī)構(gòu),如日本的TELEC,也對測量方法和認(rèn)證技術(shù)提出了要求。在美國,國防部已經(jīng)開發(fā)了MIL-STD 461F標(biāo)準(zhǔn),對軍事設(shè)備提出了特殊要求。在這些EMI標(biāo)準(zhǔn)中,對認(rèn)證設(shè)備(EMI接收機(jī))的結(jié)構(gòu),包括濾波、檢波特性都作出了詳盡的規(guī)定。只有符合這些標(biāo)準(zhǔn)的接收機(jī),才能夠作為認(rèn)證設(shè)備。

        在CISPR標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了峰值(peak)檢波、平均值(average)檢波和準(zhǔn)峰值(QP)檢波3種常用檢波方法。盡管許多EMI測量可使用簡單的峰值檢波器完成,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一種專用測量方法,即準(zhǔn)峰值檢波。QP檢波器用來檢測信號(hào)包絡(luò)加權(quán)后的峰值(準(zhǔn)峰值),根據(jù)信號(hào)時(shí)長和重復(fù)率加權(quán)多個(gè)信號(hào)。QP檢波器的特點(diǎn)是響應(yīng)快、衰減慢,包含一個(gè)表示臨界阻尼表的時(shí)間常數(shù),參見表1。發(fā)生頻次較高的信號(hào),其QP測量值要高于偶發(fā)的脈沖。然而20世紀(jì)30年代前后誕生的QP檢波器并不是為確定當(dāng)前復(fù)雜的多處理器消費(fèi)電子對現(xiàn)代通信和計(jì)算系統(tǒng)中使用的瞬態(tài)信號(hào)、跳頻數(shù)字調(diào)制信號(hào)和超寬帶信號(hào)的影響而設(shè)計(jì)的。所以面對當(dāng)前的測試要求,就顯得力不從心。

        表1 CISPR 16-1-1和ANSI C63.2中規(guī)定的準(zhǔn)峰值檢測器與頻率

        圖3 峰值和準(zhǔn)峰值檢波對8μs脈寬和10ms重復(fù)率的信號(hào)測量

        圖3 是分別使用峰值檢波和QP檢波對8μs脈寬和10ms重復(fù)率的信號(hào)進(jìn)行測量,得到的QP值比峰值低10.1dB。在實(shí)際測量EMI時(shí),通常先使用峰值檢波測量,如果出現(xiàn)超過規(guī)定極限的頻點(diǎn)或頻道,然后對其進(jìn)行速度較慢的準(zhǔn)峰值測量。通常使用帶有標(biāo)準(zhǔn)峰值檢波器的頻譜分析儀,迅速評估任何問題區(qū)域。

        QP檢波器用于區(qū)分不同重復(fù)周期的干擾信號(hào)。如果產(chǎn)品QP值接近PK峰值,那么說明存在較多的持續(xù)時(shí)間長,或者重復(fù)次數(shù)多的信號(hào)成分。但是如果深究這些信號(hào)的組成,只能通過經(jīng)驗(yàn)來解釋,并不能找到具體的證據(jù)。所以QP測量值,主要用來提供給產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員,作為EMI整改的重要參考。

        QP檢波結(jié)果是EMI測試不可缺少的重要結(jié)果。尤其在早期電路發(fā)展中,QP能夠發(fā)現(xiàn)峰值和平均值之間的非常態(tài)信號(hào)幅度。從它的電路和特性分析,QP對于單一重復(fù)噪聲具有重要的參考價(jià)值。但是面對今天這樣復(fù)雜的信號(hào)系統(tǒng),QP僅僅作為一個(gè)重要的測量參數(shù)(EMI標(biāo)準(zhǔn)的滯后性決定),而對于真正意義的研發(fā),起到的作用已經(jīng)非常小。

        而實(shí)時(shí)頻譜技術(shù),可以作為EMI測試非常重要的輔助工具,尤其對于產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和研發(fā)人員,能夠從測量結(jié)果看到熟悉的電路信號(hào)成分,以及噪聲和干擾信號(hào)[7-8]。

        3 EMI測試中測量時(shí)間和點(diǎn)數(shù)的意義

        圖4和圖5分別是用傳統(tǒng)模式和實(shí)時(shí)模式,對PC機(jī)磁盤高速緩存動(dòng)作所產(chǎn)生信號(hào)的測量。傳統(tǒng)分析儀采用峰值掃描(黃色軌跡)漏掉的瞬態(tài)EMI,保持Max-hold模式60s后被發(fā)現(xiàn);而實(shí)時(shí)頻譜技術(shù),在5s后就發(fā)現(xiàn)偶發(fā)瞬態(tài)信號(hào)。紅色區(qū)域是頻繁發(fā)生的信號(hào),藍(lán)色部分和綠色部分是瞬態(tài)信號(hào)。雖然掃描頻譜分析儀和實(shí)時(shí)頻譜儀的測量結(jié)果類似,但是相對于實(shí)時(shí)頻譜,耗費(fèi)了12倍的測量時(shí)間。由此可知如果想要使用非實(shí)時(shí)系統(tǒng)捕獲瞬態(tài)信號(hào),就需要更長的時(shí)間。

        圖4 傳統(tǒng)模式測量

        回到關(guān)于EMI測試的經(jīng)典問題:測量點(diǎn)數(shù)和捕獲概率。對于測量持續(xù)時(shí)間短的周期或非周期信號(hào),提高捕獲概率,即增加測量時(shí)間,然而測量點(diǎn)數(shù)和時(shí)間又是矛盾的,雖然當(dāng)點(diǎn)數(shù)多時(shí)概率高,但是測量時(shí)間就會(huì)延長。當(dāng)然測量步進(jìn)(點(diǎn)數(shù))不能大于規(guī)定的RBW,所以取不同的系數(shù),會(huì)有不同的測量點(diǎn)數(shù)和測量時(shí)間,如表2所示。

        表2 不同的RBW系數(shù),對應(yīng)不同的掃描點(diǎn)數(shù)

        到底如何取點(diǎn),就需要根據(jù)經(jīng)驗(yàn)做出選擇。當(dāng)然,如果有足夠的測量時(shí)間,建議還是點(diǎn)數(shù)越多越好。

        從傳統(tǒng)EMI測試設(shè)備(接收機(jī)和頻譜儀)的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、幅度檢波方法、測試時(shí)間以及捕獲概率的討論能夠看出,現(xiàn)行的EMI測試方法的最大缺點(diǎn)就是對偶發(fā)信號(hào)難以捕獲;而實(shí)時(shí)頻譜技術(shù),利用其強(qiáng)大的實(shí)時(shí)功能,能夠有效地彌補(bǔ)EMI測試中的不足,特別是在研發(fā)和故障診斷階段,能夠?yàn)樵O(shè)計(jì)人員提供最真實(shí)的信號(hào),并能有效提高測試效率,縮短研發(fā)周期[9]。

        4 測試案例

        下面通過使用實(shí)時(shí)頻譜分析儀發(fā)現(xiàn)瞬態(tài)信號(hào)和EMI隱患,當(dāng)存在這些信號(hào)和隱患時(shí)會(huì)觸發(fā)系統(tǒng),并分析其特點(diǎn)。單個(gè)的瞬變信號(hào)會(huì)產(chǎn)生一串瞬態(tài)信號(hào),這些信號(hào)每次只持續(xù)很短的時(shí)間。某設(shè)備為一種嵌入式系統(tǒng),當(dāng)系統(tǒng)被要求把數(shù)據(jù)緩存到硬盤時(shí)導(dǎo)致了瞬態(tài)EMI。在使用掃頻分析儀的峰值檢波器簡單檢查后(圖6中黃色軌跡),似乎只有一個(gè)連續(xù)信號(hào);使用Max-hold幾分鐘,同時(shí)循環(huán)EUT工作模式,會(huì)指明問題(圖6中藍(lán)色軌跡)。但在峰值檢波模式下進(jìn)行快速掃描僅得到黃色軌跡,沒有檢測到問題。

        使用實(shí)時(shí)技術(shù)考察EUT的EMI特性,立即發(fā)現(xiàn)問題。在圖6中,發(fā)生頻次較高的信號(hào)用紅色表示,發(fā)生頻次較低的信號(hào)用藍(lán)色和綠色表示,可以立即看到哪些信號(hào)是連續(xù)的,哪些信號(hào)是瞬態(tài)的。瞬態(tài)信號(hào)偶爾出現(xiàn),但其電平要比連續(xù)信號(hào)高出15dB。

        實(shí)時(shí)技術(shù)還可觸發(fā)和捕獲信號(hào),以便進(jìn)一步進(jìn)行分析。通過根據(jù)連續(xù)信號(hào)曲線定義頻率模板觸發(fā),然后在頻譜中捕獲偶發(fā)的瞬態(tài)信號(hào),可以輕松觸發(fā)和捕獲信號(hào),持續(xù)時(shí)間超過10.3 μs、高出頻率模板門限的任何信號(hào)都會(huì)導(dǎo)致觸發(fā),并將觸發(fā)前和觸發(fā)后的信號(hào)存儲(chǔ)。

        圖6 使用頻率模板觸發(fā)技術(shù)捕獲以1s重復(fù)率發(fā)生的瞬態(tài)信號(hào)

        5 結(jié)束語

        實(shí)時(shí)分析技術(shù)與掃頻技術(shù)相比,大大縮短了保證100%瞬態(tài)信號(hào)偵聽概率所需的最低信號(hào)時(shí)長。通過使用實(shí)時(shí)頻譜技術(shù)的測量儀器進(jìn)行EMI的診斷測試,可以簡便地調(diào)試產(chǎn)生各種瞬態(tài)信號(hào)的系統(tǒng),保證在分析過程中不會(huì)漏掉瞬態(tài)信號(hào),這縮短了獲得信息的時(shí)間,提高了被測設(shè)備質(zhì)量。

        [1]MIL-STD-461F Requirement for the control of electromagnetic interference characteristics of subsystems and equipment[S].Department of defense of USA,2007.

        [2]CISPR 16-1-1 Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods-Part 1-1:Radio disturbance and immunity measuring apparatusmeasuring apparatus [S].InternationalElectrotechnical Commisioon,2006.

        [3]Edwin L,Bronaugh.The Quasi-Peak Detector[EB/OL].http://www.ieee.org/organizations/pubs/newsletters/emcs/summer 01/pp.bronaugh.htm.

        [4]劉玉軍,吳小東,王東楊,等.實(shí)時(shí)頻譜分析原理與應(yīng)用[J].現(xiàn)代儀器,2009,15(2):7-11.

        [5]張璨,秦開宇.實(shí)時(shí)頻譜分析儀中CCDF測量功能的實(shí)現(xiàn)[J].中國測試技術(shù),2007,33(1):40-42.

        [6]Mardiguian M,陳愛新.輻射發(fā)射控制設(shè)計(jì)技術(shù)[M].北京:科學(xué)出版社,2008:27-28.

        [7]何宏.電磁兼容原理與技術(shù)[M].西安:西安電子科技大學(xué)出版社,2008:15-16.

        [8]劉培國,侯冬云.電磁兼容基礎(chǔ)[M].北京:電子工業(yè)出版社,2008:15-17.

        [9]楊克俊.電磁兼容原理與設(shè)計(jì)技術(shù)[M].北京:人民郵電出版社,2011:52-53.

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