摘要：由于傳統(tǒng)的NI-DIO驅(qū)動(dòng)板卡能夠驅(qū)動(dòng)的I/O口數(shù)量比較有限，一般只應(yīng)用在測(cè)試通道數(shù)比較少的實(shí)驗(yàn)場(chǎng)合。而在一般的大型環(huán)境試驗(yàn)中，要求能對(duì)多個(gè)產(chǎn)品同時(shí)測(cè)量。如果使用傳統(tǒng)的DIO板卡測(cè)試，就會(huì)出現(xiàn)測(cè)量通道數(shù)量不夠的情況。針對(duì)此類問題，提出了運(yùn)用單片機(jī)與I/O擴(kuò)展芯片PCA9554/A采用I2C通信進(jìn)行I/O擴(kuò)展，上位機(jī)采用LabVIEW編程，界面友好、操作方便，在環(huán)境實(shí)驗(yàn)中起到了良好效果。

關(guān)鍵詞：I/O口；MCU；PCA9554/A;LabVIEW

中圖分類號(hào)：TN919-34文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A文章編號(hào)：1004-373X(2012)12-0059-04