摘要：當PCB板上載到夾具過程中，由于夾具精度，人為等因素的影響，對基板坐標產生一定偏移及旋轉的影響，從而對元器件裝貼精度產生影響，因此對基準點進行特征提取，但具有比較大的局限性。由此提出一種基于尺度空間的SIFT算法的Mark點匹配方法，將圖像上特征轉化為尺度空間特征，可以只對一個Mark點進行匹配校正，消除電路板平面上平移誤差和旋轉誤差，通過實驗證明其精度能達到0.6個像素以下的亞像素級別的精度要求。

關鍵詞：SIFT算法；基準點；匹配；平移誤差

中圖分類號：TN919-34文獻標識碼：A文章編號：1004-373X(2012)12-0084-03