TFT LCD常見點缺陷的檢測與修復(fù)
2012-04-12 00:00:00黃雅紋陳再良
現(xiàn)代電子技術(shù) 2012年23期
摘要：TFT-LCD在制程中會產(chǎn)生亮點、暗點、閃點、碎亮點等常見點缺陷。說明了檢測點缺陷的裝置、方法和過程。采用ITO隔離、激光炸射等方法對點缺陷進行修復(fù)或者淡化，其中ITO隔離法修復(fù)或淡化效果顯著。修復(fù)成功率從45%提升到80%。
關(guān)鍵詞：TFT-LCD； 點缺陷； 檢測； 激光修復(fù)
中圖分類號：TN27-34文獻標識碼：A文章編號：1004-373X（2012）23-0189-03
