一種基于退化數(shù)據(jù)的元器件可靠性定量檢驗(yàn)方法研究
2012-04-12 00:00:00田笑孫悅黃姣英高成
現(xiàn)代電子技術(shù) 2012年13期
摘要：針對(duì)高可靠元器件可靠性鑒定中缺乏可靠性級(jí)別定量評(píng)價(jià)的問(wèn)題，基于失效物理，分析了鍵合強(qiáng)度參數(shù)退化及失效判據(jù)，并給出了退化模型的數(shù)學(xué)表達(dá)和參數(shù)估計(jì)方法，研究基于退化量分布的可靠性定量檢驗(yàn)方法，并采用AD廠家的AD524SD作為試驗(yàn)器件，進(jìn)行了相應(yīng)的試驗(yàn)分析和驗(yàn)證。結(jié)果表明，提出的高可靠性級(jí)別器件鑒定檢驗(yàn)方法具有很好的工程適用性和應(yīng)用價(jià)值。
