李曉潮,王鋼榮,吳瓊瑤,程順昌,王微頻
(重慶光電技術(shù)研究所,重慶 400060)
CCD是電荷耦合器件的簡稱, 它可把外界物體的圖像信號轉(zhuǎn)換成電信號,即把入射到CCD光敏面上的、按空間位置分布的光強信號,轉(zhuǎn)換為按時間順序串行輸出的視頻信號,視頻信號可在各種顯示器上再現(xiàn)原物體的圖像。目前,全世界航天用探測器、偵查相機大多采用CCD。為了防電磁輻射、防光源干擾、防太空輻射等方面的要求,需要器件具備較好的密封性能。而密封性能也是CCD在實際應(yīng)用中的一個極其重要的參數(shù)。
目前,在我國航天電子元器件可靠性試驗中,因誤判小,可靠性高,被廣泛應(yīng)用的粗檢漏方法為高氟油粗檢漏。但由于高溫氟油檢漏時,檢測過程中會存在較大的溫差,可能會出現(xiàn)光學(xué)元器件的玻璃、陶瓷等部位的細小裂隙擴大、器件光窗被污染等情況,從而對篩選器件造成額外的損傷,或在鑒定階段降低器件承受可靠性試驗的能力。而酒精粗檢漏不需要在高溫氟油下進行粗檢漏檢驗,因而可以有效地避免氟油粗檢漏對光學(xué)元器件所造成的額外影響。
這篇文章主要選用了某型號全幀轉(zhuǎn)移CCD作為試驗對象,并根據(jù)器件的具體空腔體積來選擇試驗條件[1]:每只器件承受的壓力大小為310 kPa,加壓時間為2 h;試驗時,將加壓后的器件置于酒精器皿中抽負壓,當壓力下降至50 kPa時,恒定壓力條件,觀察1 min,查看是否有連續(xù)小氣泡或幾個大氣泡冒出,作為對器件氣密性能的判斷依據(jù)[2]。
試驗所采用的元器件為全幀轉(zhuǎn)移CCD,密封方式采用密封膠將玻璃與陶瓷管殼進行粘接,空腔體積為279 mm3。試驗示意圖如圖1所示。
圖1 酒精粗檢漏示意圖
在初次進行酒精粗檢漏試驗時,選用了2只CCD進行密封性能摸底試驗。在未經(jīng)過任何預(yù)處理手段進行試驗時,會發(fā)現(xiàn)在器件光窗密封處,有多個密封點一直存在連續(xù)小氣泡冒出,且長時間持續(xù)冒泡。若器件屬于密封性能未過,其冒泡現(xiàn)象應(yīng)是氣泡快速冒出,且很快就會停止 (因器件的空腔體積有限)。為排除試驗現(xiàn)象的偶然性,故連續(xù)投入了6只器件進行粗檢漏試驗,所表現(xiàn)出來的現(xiàn)象與之前相同,均有連續(xù)氣泡冒出,均屬不合格。示意圖如圖2所示。
圖2 未經(jīng)預(yù)處理器件檢漏示意圖
針對以上現(xiàn)象,決定采用氟油粗檢漏進行復(fù)驗:器件在加壓后放置于125℃氟油中10 min,8只器件均無氣泡冒出。于是對這8只器件的結(jié)論為:8只器件均合格,器件的密封性能沒有問題。而酒精粗檢漏,作為第一次接觸的試驗方法,一定存在人為或固有的問題,并在試驗過程中被觸及從而造成誤判。并且,氟油檢漏不合格器件的冒泡情況也與這8只器件的狀況不同,如圖3所示。
圖3 氟油粗檢漏不合格器件的酒精檢漏冒泡情況
相關(guān)人員在試驗過程中發(fā)現(xiàn),酒精即使不放置任何樣品進行抽負壓時,也會出現(xiàn)離散氣泡冒出,并且持續(xù)時間達3 min以上:如CCD表面吸附較大的顆粒,則會出現(xiàn)一連串連續(xù)小氣泡,如圖3所示。
故據(jù)此推測:該試驗的試驗結(jié)果判定與器件表面粘附顆粒與酒精潔凈度有關(guān)。為此試驗人員進行了下列摸底試驗以尋找對器件造成誤判的原因:
a)將誤判器件放置于25倍顯微鏡下進行鏡檢,并用鑷子將粘附的顆粒進行清除 (因為粘附顆粒均被密封膠粘結(jié),采用氮氣槍與酒精棉球進行處理的效果不佳)。清除完成后,利用氮氣槍對器件表面進行吹拂處理,然后重新進行酒精粗檢漏試驗。原檢漏未過的8只器件僅有2只未過,且所冒出的氣泡與處理前相比,氣泡明顯地變少。且其中6只均有離散氣泡冒出,另外2只雖仍有連續(xù)氣泡冒出,但數(shù)量已較之前變少。
檢漏不合格器件冒泡處的不潔凈物圖像如圖4所示。
圖4 管殼密封處的附著顆粒
b)試驗人員將試驗未過的兩只器件重新進行鏡檢,再未發(fā)現(xiàn)有吸附顆粒的存在。于是開始嘗試對酒精進行更換處理,提升酒精純度為CMOS-Ⅲ級酒精,重新進行試驗,2只未過器件已沒有連續(xù)氣泡冒出。但所有的器件在試驗時,均存在離散氣泡冒出。
c)因離散氣泡同樣會對粗檢漏試驗結(jié)果的正確性造成誤判,所以仍需尋求解決的辦法以提高整個試驗的可靠性。
試驗人員隨后發(fā)現(xiàn):當酒精中不存在任何器件進行抽負壓時,同樣存在離散氣泡冒出的現(xiàn)象,于是懷疑離散氣泡與酒精本身的溶氣性有很大的關(guān)系。隨后試驗人員決定采取將酒精一直保持在負壓狀態(tài) (30 kPa,持續(xù)時間30 min),然后再將之前未過的6只CCD經(jīng)過2 h加壓,重新進行粗檢漏試驗,發(fā)現(xiàn)所有的器件不再冒出離散氣泡。
a)器件本身粘附的固體顆粒,其中以密封膠固定的顆粒所造成氣泡的影響最為明顯。
b)酒精本身的純度。若純度不高,則酒精本身所含有的雜質(zhì)顆粒就會在負壓狀態(tài)下產(chǎn)生氣泡,進而影響器件密封性能的判斷。
c)酒精的溶氣性。因酒精本身有溶氣性,并在試驗時的負壓狀態(tài)釋放出來,故試驗用酒精在不使用時應(yīng)一直保持在負壓狀態(tài),以避免酒精中溶解出過多的氣體。
針對上述問題,我們采取了如下措施:
a)密封完成后的器件需在25倍放大的顯微鏡下進行顆粒清理工作。
b)進行酒精粗檢漏試驗時,預(yù)先使用氮氣槍、酒精棉球?qū)ζ骷芊庹辰犹庍M行清理,將CCD在試驗階段中所粘帶的顆粒清除干凈,然后進行試驗。
c)試驗開始前與完成后,均需使試驗用酒精保持在負壓環(huán)節(jié)。
d)試驗用器件需保持在潔凈的環(huán)境當中進行試驗。因為即使在試驗時對器件進行清洗,也可能因為器件粘附顆粒過多而無法清理干凈,從而造成粗檢漏的錯誤判定,導(dǎo)致合格樣品的損失。
[1] 米本和也.CCD/CMOS圖像傳感器基礎(chǔ)與應(yīng)用 [M].北京:科學(xué)出版社,2006.
[2] GJB 5968-2007,電荷耦合成像器件通用規(guī)范 [S].