芮 翔,劉澤昕,徐伯慶
(1.安徽省馬鞍山當(dāng)涂供電公司,安徽 馬鞍山 243100;2.上海理工大學(xué) 光學(xué)信息與計算機工程學(xué)院,上海 200093)
圖像退化[1]是任何一個成像系統(tǒng)都不可以避免的一個問題,針對于成像系統(tǒng)的不同要求和設(shè)計,通?;謴?fù)濾波器的選擇也各不相同,常用的恢復(fù)算法有維納濾波、逆濾波、最大熵濾波[2]等。對于一些成像系統(tǒng)而言,當(dāng)對退化系統(tǒng)先驗知識不夠完備或者說對退化函數(shù)的認識不夠清晰,是無法設(shè)計出好的恢復(fù)濾波器的,因此在設(shè)計濾波器之前做一個退化函數(shù)的估計是有必要的。
遺傳算法[3]作為一種成熟優(yōu)秀的全局尋優(yōu)算法,魯棒性強的同時也不需要太多的參數(shù)設(shè)置。通過近些年的發(fā)展,遺傳算法已得到了越來越多領(lǐng)域的認可。
圖像退化的過程可以簡單地描述為:一幅原始圖像f(x,y)與一個退化系統(tǒng)或者退化函數(shù)H的作用,再加以噪聲n(x,y),形成退化圖像g(x,y)。圖像退化過程如圖1所示。如何獲得較為精準的退化函數(shù)是大家所關(guān)心的問題。
圖1 圖像的退化模型Fig.1 A model of the image degradation
通常認為退化函數(shù)H是一個線性時不變系統(tǒng),則圖像的退化過程在空間域可以表示為
式(1)中,h(x,y)為退化函數(shù)的空間描述,符號“*”表示空間卷積。對式(1)所示模型寫成等價的頻域描述,可得到
式(2)中的大寫字母是式(1)中相應(yīng)的傅里葉變換。對式(2)變形得
對式(3)進行傅里葉逆變換得
由式(4)可知,當(dāng)N(u,v)=0時,可以得到:f′(x,y)=f(x,y)。即在噪聲為零的時候,可以通過逆濾波有效的達到預(yù)期的效果。但是通常情況下,噪聲不可能為零。并且在頻域若出現(xiàn)H(u,v)=0或者值非常小的時候,會出現(xiàn)
由于噪聲等因素的影響,故在實際情況中直接用逆濾波去估計退化函數(shù)是不合適的。為了克服噪聲等因素對退化函數(shù)估計的影響,現(xiàn)希望可以從全局尋優(yōu)的角度出發(fā),來解決這個問題。遺傳算法作為全局尋優(yōu)優(yōu)化算法的杰出代表,從1975年由美國Michigan大學(xué)Holland J教授提出至今,算法已經(jīng)發(fā)展得比較完善[4],故文中選擇該方法作為圖像退化函數(shù)的估計算法。
遺傳算法(genetic algorithm,GA)是一種抽象于生物進化過程的模擬自然選擇和生物遺傳機制的優(yōu)化算法,它體現(xiàn)了適者生存、優(yōu)勝劣汰的進化原則[5]。通過對可能包含解的群體反復(fù)使用遺傳學(xué)的基本操作,不斷生成新的群體,使群體不斷進化,同時以全局并行搜索技術(shù)來搜索優(yōu)化群體中的最優(yōu)個體,以搜尋到全局最優(yōu)解。標準的遺傳算法進化流程圖如圖2所示。
遺傳算法不但自組織性、自適應(yīng)性好,所需受控參數(shù)少,魯棒性強[6],而且在需要解決的問題越復(fù)雜、目標越不明確時,其優(yōu)越性越大,因此在許多領(lǐng)域都得到了較為廣泛的應(yīng)用。
實驗背景:為驗證遺傳算法對估計系統(tǒng)退化函數(shù)的有效性,會事先用一副原始圖像通過一個已知的退化函數(shù)得到退化圖像。在已知原始圖像和退化圖像的條件下,用遺傳算法估計退化函數(shù)。若估計的退化函數(shù)與之前已知的退化函數(shù)一致或者相似,則說明用遺傳算法估計圖像的退化函數(shù)是有效的。
圖2 遺傳算法流程圖Fig.2 The flowchart of genetic algorithm
首先對退化函數(shù)種群進行初始化,由于已知的圖像都是二維灰度圖像,故為簡化過程方便計算,每一個初始化的退化函數(shù)都設(shè)為一個M×N的二維矩陣。
利用隨機函數(shù)隨機產(chǎn)生,并且根據(jù)退化函數(shù)的特點對每一個個體都要進行歸一化處理。一般來說,種群規(guī)模為20~100,文中初始種群規(guī)模數(shù)為50,迭代次數(shù)500次。
遺傳算法中需要把握好的幾個關(guān)鍵步驟為:選擇算子、交叉算子、變異算子[7],下面將逐個介紹。
2.2.1 選擇算子
選擇算子顧名思義就是將種群中適應(yīng)度高的個體選出,淘汰種群中適應(yīng)度低的個體。文中的適應(yīng)度函數(shù)由于是為了評估退化算子的好壞,故會把每一個估計的退化函數(shù)分別與原始圖像進行卷積運算,得到估計的退化圖像,通過求估計的退化圖像與實際退化圖像的峰值信噪比(peak signal to noise radio,PSNR)的大小,來判斷估計退化函數(shù)的好壞。PSNR越大即適應(yīng)度越好,估計的退化函數(shù)就越好。
在整個流程過程中,每一次交叉、變異都會不斷的產(chǎn)生新個體,為了更好地體現(xiàn)“適者生存”的進化原則,會在當(dāng)前種群中的N個舊個體,和經(jīng)過交叉、變異產(chǎn)生的N個新個體,總共2N個個體同時作為選擇對象,根據(jù)適應(yīng)度的大小,淘汰其中適應(yīng)度小的N個個體,留下剩下適應(yīng)度大的個體。
2.2.2 交叉算子
整個遺傳算法進化過程主要通過交叉算子產(chǎn)生新個體,通常采用的交叉算法有:單點交叉,多點交叉等。文中種群個體為二維矩陣,為方便操作過程,采用隨機交叉塊的方法,即隨機產(chǎn)生交叉點P,該點將矩陣分為4塊,再按照圖3所示組合方法得到新個體。
圖3 交叉算子示意圖Fig.3 The sketch map of crossover
2.2.3 變異算子
變異算子是進化過程中不可缺少的一步,既可以保證遺傳算法種群的多樣性,又能有效地防治過早收斂。一般來說變異概率不會太高(0.5%~2%),根據(jù)種群數(shù)的大小,每一代只變異一個個體。對隨機取出的變異個體,根據(jù)矩陣大小,隨機取出矩陣大小的1%個位置,以0~1之間的隨機數(shù)填充之即可。
圖4 原圖像Ⅰ(384×512pixel)Fig.4 Input imageⅠ(384×512pixel)
圖5 原圖像Ⅱ(1 536×2 048pixle)Fig.5 Input imageⅡ (1 536×2 048pixel)
實驗是以MatLab7.0為編譯平臺[8]。試驗中分別采用圖4和圖5兩幅圖像作為原始圖像,以圖6和圖7作為退化函數(shù)。按照上述的實驗原理步驟對圖像的退化函數(shù)進行估計,分別得到估計的退化函數(shù),如圖8和圖9所示。
圖6 原退化函數(shù)Ⅰ(7×7)Fig.6 Degradation functionⅠ(7×7)
圖7 原退化函數(shù)Ⅱ(27×27)Fig.7 Degradation functionⅡ(27×27)
圖8 估計的退化函數(shù)ⅠFig.8 The estimation degradation functionⅠ
圖9 估計的退化函數(shù)ⅡFig.9 The estimation degradation functionⅡ
實驗中得到的估計退化函數(shù)與相應(yīng)的實際退化函數(shù)的峰值信噪比PSNR分別可以達到46和48。說明該方法對退化函數(shù)的估計是可行的。
通過實驗結(jié)果可以看出,遺傳算法作為一種比較成熟的進化優(yōu)化理論,可以對成像系統(tǒng)的退化函數(shù)做出較為精準的估計。在實踐中,也可以通過實驗法來估計成像系統(tǒng)的退化函數(shù),數(shù)據(jù)也比較理想,但是卻是非常的耗時耗力;而遺傳算法能在克服噪聲影響的前提下,對退化函數(shù)有了較為精確的估計,為后期的設(shè)計恢復(fù)濾波器奠定基礎(chǔ)。
[1] GONZALEZ R,WOODS R.Digital image processing[M].2nd ed.Beijing:Publishing House of Electronics Industry,2008.
[2] 阮秋琦.數(shù)字圖像處理學(xué)[M].北京:電子工業(yè)出版社,2007.
[3] 王小平,曹立明.遺傳算法:理論、應(yīng)用與軟件實現(xiàn)[M].西安:西安交通大學(xué)出版社,2002.
[4] JOHNSON E,ABUSHAGUR M.Image deconvolution using a micro genetic algorithm[J].Optics Communications,1997,140:6-10.
[5] 高 尚,楊靖宇.群智能算法及其應(yīng)用[M].北京:中國水利水電出版社,2006.
[6] 李敏強.遺傳算法的基本原理與應(yīng)用[M].上海:科學(xué)出版社,2002.
[7] 黃薇薇,葉 子,張文字,等.基于遺傳算法的波前編碼相位板參數(shù)優(yōu)化[J].光學(xué)儀器,2007,29(4):17-22.
[8] GONZALEZ R,WOODS R.Digital image processing using MatLab[M].Beijing:Publishing House of Electronics Industry,2009.