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        介質(zhì)陶瓷諧振器的參數(shù)測量

        2010-09-25 09:12:08曹良足郭童軍
        陶瓷學報 2010年4期
        關鍵詞:諧振器同軸分析儀

        曹良足 郭童軍

        (景德鎮(zhèn)陶瓷學院機電學院,江西景德鎮(zhèn)333403)

        介質(zhì)陶瓷諧振器的參數(shù)測量

        曹良足 郭童軍

        (景德鎮(zhèn)陶瓷學院機電學院,江西景德鎮(zhèn)333403)

        介紹一種測量TEM型介質(zhì)陶瓷諧振器的頻率和Q值的方法。在諧振器的開路端加載高Q值的電容,分別與網(wǎng)絡分析儀的輸入端和輸出端進行弱耦合,用標量網(wǎng)絡分析儀測出其傳輸曲線,從傳輸曲線上直接讀出回路諧振頻率和有載Q值。從理論上分析了測量值與理論值的差距,得到了諧振器的頻率和無載值的計算公式。用介電常數(shù)為74的BaO-TiO2-Sm2O3微波介質(zhì)材料制作了介質(zhì)陶瓷諧振器,將測量數(shù)據(jù)與反射法進行比較,結果表明該方法測量精度較高。

        介質(zhì)陶瓷諧振器,諧振頻率,無載Q值

        1 引言

        介質(zhì)同軸諧振器(簡稱TEM型諧振器)是由低損耗、高介電常數(shù)的微波介質(zhì)陶瓷制成的,因而具有較高的Q值和較小的體積,廣泛用于微波濾波器、雙工器和振蕩器[1]。準確測量諧振器的參數(shù),如諧振頻率和Q值,對諧振器的生產(chǎn)和應用大有幫助。國內(nèi)外關于TEM型諧振器參數(shù)測量的文獻報道較少,反射法是測量諧振頻率和無載Q值的最常見的方法之一[2],借助Smith Chart(史密斯圓圖)確定臨界耦合點(即諧振點),但是需要使用矢量網(wǎng)絡分析儀。Raymond S.kwork等[3]介紹了一種用標量網(wǎng)絡分析儀測量諧振器無載Q值的方法,但需要求出變換函數(shù)(mappingfunction),該函數(shù)的求解相當繁瑣。作者曾采用串聯(lián)諧振法測量TEM諧振器的參數(shù)[4],該方法簡便易行,但諧振頻率的測量值與實際值相差一個常數(shù),適用于諧振器的分選。本文采用一種新的測量方法:在諧振器的開路端加載電容分別與網(wǎng)絡分析儀的輸入和輸出端進行弱耦合,并測量其傳輸曲線,從傳輸曲線上讀出回路的諧振頻率和有載Q值,然后經(jīng)過計算得到諧振器的頻率和無載Q值。

        2 測量原理

        1/4波長介質(zhì)同軸諧振器等效為并聯(lián)LC諧振回路[5],按圖1所示線路進行測量。

        圖1中C01和C02為輸入輸出耦合電容,GA和GB分別為信號源和負載的導納,一般為0.02S,Us為信號源。由C1、L1和G1構成的并聯(lián)回路就是諧振器的等效電路。另外圖中的耦合電容為高Q值,所以假設它們?yōu)槔硐腚娙萜鳌?/p>

        現(xiàn)將圖1進行導納變換[6],得到圖2。

        圖2中J01和J02為導納倒置變換器,Ce1和Ce2分別為導納變換所產(chǎn)生的補償電容,Ce1和Ce2由下列公式求得[7]:

        將上述電路的諧振回路進一步化簡得到傳輸型諧振器的等效電路圖[7],如圖3所示。

        圖3中Gex1和Gex2分別為輸入和輸出導納通過導納變換后的導納。Gex1和Gex2分別由下式求出:

        上述式中β1和β2分別為輸入耦合系數(shù)和輸出耦合系數(shù)。

        對圖3,輸入導納由下式求出:

        當諧振器發(fā)生諧振時,Gi等于實數(shù),便得到諧振頻率:

        傳輸型諧振器的QL值由(3)、(4)、(5)和(6)式求出:

        (7)式中Qu為諧振器的無載Q值,QL的大小可以從圖4所示傳輸曲線上讀出:要想求Qu的值,必須知道β1和β2的值,β1和β2也與傳輸曲線上的插入損耗IL有關,它們的關系式如下[7]:

        當β1=β2時,將(9)式代入(7)式得到Qu的表達式:

        當Ce1和Ce2很小時,并假設Ce1=Ce2=Ce,將(1)、(2)和(6)式用冪級數(shù)展開[8],并忽略高次項得:

        當C01很小,(11)式的第三項可以忽略不計,則(11)式可簡化為

        3 試驗過程及結果討論

        選取介電常數(shù)為74的BaO-TiO2-Sm2O3系統(tǒng)的微波介質(zhì)材料制作介質(zhì)同軸諧振器。按照電子陶瓷的生產(chǎn)工藝配制瓷料,然后加入7wt.%左右的PVA粘合劑進行造粒,采用干壓成型,壓力為20MPa壓制出內(nèi)外徑分別為3mm和10mm,高度9.5 mm的圓柱形生坯,在1350℃溫度下燒結2h,產(chǎn)品的內(nèi)外徑分別是2.5mm和8mm,高度8.3 mm的瓷柱,然后在除一個端面外的所有內(nèi)外表面涂覆銀漿,在880℃下燒滲銀。將諧振器的開路端加載高Q值的電容,分別與網(wǎng)絡分析儀的輸入輸出端口耦合,用E5071B網(wǎng)絡分析儀測量回路的傳輸特性,從曲線直接讀出傳輸型諧振器的諧振頻率和有載Q值。測試曲線如圖5所示。

        為了分析電容的容量和Q值對試驗結果的影響,選擇2種不同類型的電容,每種電容選取不同的容量,分別加載在同一規(guī)格的同軸諧振器的開路端,從網(wǎng)絡分析儀上讀出諧振頻率和Q值。數(shù)據(jù)列于表1中。表中固定電容一欄“×2”表示輸入輸出電容相等,只有一個電容值表示輸入電容為固定電容,輸出電容為間隙電容(間隙為2mm);表中的分布電容是指在厚為1mm,寬2.5mm的三氧化二鋁(A12O3)基片上的三個導電帶之間形成的間隙電容,其電容的大小與間隙成反比。

        從表1可以粗略看出,加載的電容越小,QL值越大,插入損耗越小,諧振頻率偏高。從計算出的Qu值可知,用固定電容耦合的諧振器的QU很小,而用分布電容耦合的諧振器Qu的很大,兩者相差一倍,這是因為公式(10)是在假設電容具有較高的Q值的情況推導出來的,而0805型電容器的Q值比較小。也就是說當耦合電容的損耗較大時,不能用公式(10)來計算諧振器的無載Q值。用分布電容耦合時,隨著電容量的進一步減小(即間隙逐漸增大),諧振頻率的測量值差距越來越小,計算的Qu值也越來越接近,這種情況用上述公式(10)和(12)很容易解釋。這是因為公式(12)的C01很小時,C01/C1也很小,插入損耗IL也很小,(10)式分母的指數(shù)值也很小。因此,當耦合電容的Q值較高時,它與網(wǎng)絡分析儀兩端口耦合越弱時,用傳輸法測量的諧振頻率和Q值越接近諧振器本身的值(指反射法測量的值),甚至用測量值代替“真值”(實際上也是測量值)所產(chǎn)生的誤差不超過1%。

        從表1中加載不對稱電容所得的數(shù)據(jù)對由介質(zhì)同軸諧振器構成濾波器的調(diào)試有很大的指導意義,即增大輸入電容(或輸出電容)可以改變?yōu)V波器的通帶帶寬。

        表1測試數(shù)據(jù)Tab.1 Measurement data

        4 結論

        (1)在1/4波長介質(zhì)同軸諧振器的開路端加載高Q值的對稱電容與網(wǎng)絡分析器的兩端進行弱耦合,用網(wǎng)絡分析儀測量其傳輸曲線,從曲線上直接讀出回路諧振頻率、有載Q值及插入耗損,然后利用上述公式(10)和(12)能計算得到諧振器本身的諧振頻率和無載Q值。

        (2)當加載的電容的Q值越高、耦合電容量越小,插入損耗越?。ㄐ∮?30dB),測量的有載Q值越接近諧振器的無載Q值;但當加載加容的Q值較低、電容量越大時,則測量的有載Q值越小,離諧振器的無載Q值越遠。當耦合電容的損耗很小,耦合非常弱時,用測量值代替真值所產(chǎn)生的誤差將很小。

        (3)在諧振器的開路端加載電容時,諧振器的諧振頻率降低,可用(6)式計算,對由電容耦合的介質(zhì)濾波器的設計和制作有一定的指導作用。該方法適用于介質(zhì)陶瓷諧振器的自動測量和分選,對大批量生產(chǎn)來說非常實用。

        1曹良足,黎澤仁,范躍農(nóng)等.介質(zhì)同軸諧振器的結構與測量.中國陶瓷,2005,41(2):31~33

        2 ChuaL H and SyahkalD M.Accurateand direct characterization ofhigh-Q microwave resonatorsusing one-port measurement.IEEE Trans.Microwave Theory and Tech.,2003,51(3):978~985

        3 Raymond S.Kwork and Ji-Fuh Liang.Characterization of high-Q resonators for microwave filter applications.IEEE Trans.Microwave Theory and Tech.,1999,47(1):111~114

        4曹良足,孫敏松.串聯(lián)諧振法測量1/4波長介質(zhì)同軸諧振器的特性參數(shù).電子測量技術,2007,30(10):64~66

        5顧繼慧.微波技術.北京:科學出版社,2004,2

        6甘本跋,吳萬春.現(xiàn)代微波濾波器的結構與設計.北京:科學出版社,1973

        7倪爾瑚.介質(zhì)諧振器的微波測量.北京:科學出版社,2006

        8中國礦業(yè)學院數(shù)學教研室.數(shù)學手冊(第二版).北京:科學出版社,1980,9

        Abstract

        A method for measuring the properties of TEM type dielectric resonators was described.Two high-Q capacitors were connected to the open end of a resonator,and the resonator was weakly coupled to a Network Analyzer through these capacitors.The transmission curve was measured by the Network Analyzer,the circuit frequency and the loaded Q value of the resonator could be read from the curve.The differences between the theoretical and measured values have been analyzed theoretically,the formula for calculating the resonant frequency and the unloaded Q value of the resonator were derived.The dielectric ceramic resonators were made of BaO-TiO2-Sm2O3microwave dielectric material with the dielectric constant being 74.Compared with the reflection measurement,the calculated value is more accurate.

        Keywords dielectric ceramic resonator,resonant frequency,unloaded Q value

        Received on May.13,2010

        Cao Liangzu,E-mail:clz4233@yahoo.com.cn

        MEASUREMENT OF THE PROPERTIES OF DIELECTRIC CERAMIC RESONATORS

        Cao Liangzu Guo Tongjun
        (School of Mechanical and Electronic Engineering,Jingdezhen Ceramic Institute,Jingdezhen Jiangxi 33403,China)

        TQ174.75

        A

        1000-2278(2010)04-0581-05

        2010-05-13

        江西省教育廳科研項目(編號:GJJ10564)

        曹良足,E-mail:clz4233@yahoo.com.cn

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