文 | 重慶四達(dá)試驗設(shè)備有限公司 熊剛 周祖德 楊東 周奕

新型G系列高低溫交變濕熱試驗箱

文 | 重慶四達(dá)試驗設(shè)備有限公司 熊剛 周祖德 楊東 周奕

本文介紹國內(nèi)最新研發(fā)的新一代的環(huán)境試驗設(shè)備。用于航空、航天、信息、電子、儀器儀表等行業(yè)作電工電子產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備的高低溫試驗及濕熱試驗。

溫度；濕度；試驗箱；專利；特點；技術(shù)難點

新型G系列高低溫交變溫?zé)嵩囼炏涫俏夜咀罱邪l(fā)的濕熱箱更新?lián)Q代產(chǎn)品，該系列產(chǎn)品結(jié)合實驗室的特點和使用人員反饋的意見，依據(jù)美學(xué)和人體工程學(xué)，采用計算機仿真技術(shù)設(shè)計制造并已通過重慶市科委鑒定，或得重慶市重點新產(chǎn)品認(rèn)定。該系列產(chǎn)品在人性化和可靠性上比老一代產(chǎn)品大幅提升?，F(xiàn)將該系列產(chǎn)品介紹如下：

該系列產(chǎn)品廣泛用于航空、航天、信息、電子、儀器儀表等行業(yè)作電工電子產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備的高低溫試驗及濕熱試驗。以便對試品在給定環(huán)境條件下的行為能力作出評價。

一：主要技術(shù)指標(biāo)（如下頁表1）

二：滿足和執(zhí)行技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

1.滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T 2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T 2423.3-2004 試驗Dab：恒定濕熱試驗（濕熱型）

GB/T 2423.4-2008 試驗Db：交變濕熱試驗（濕熱型）

GJB 150.3-1986 高溫試驗

GJB 150.4-1986 低溫試驗

GJB 150.9-1986 濕熱試驗（濕熱型）

2.執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件

（試驗時每立方米負(fù)載不大于35kg/m3鋼的熱容量，濕熱試驗時無有源熱負(fù)載）

三：結(jié)構(gòu)特點

1：該試驗箱主要由工作室、控制系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)等三部份組成（如下頁圖一）；

該試驗箱結(jié)構(gòu)冷凝風(fēng)方向為前進上出，使設(shè)備在狹小地方的適應(yīng)力大大加強。比傳統(tǒng)試驗箱節(jié)約地方超過50%；

2：箱體外殼采用優(yōu)質(zhì)碳素鋼板、內(nèi)膽采用進口不銹鋼板，箱體保溫材料采用聚胺脂硬質(zhì)泡沫通過專用夾具整體發(fā)泡成型，使箱體具有很好的強度和保溫性，防水性。外表面采用靜電噴塑具有很好的防腐性能；

3：大門采用自己研發(fā)的快夾鎖緊簡單可靠，并采用優(yōu)質(zhì)硅橡膠密封條，使密封性能更優(yōu)良。觀察窗采用超大電熱鍍膜防潮隔溫型，可視面積為400mm×470mm；

4：控制器采用了我公司獲得實用新型專利授權(quán)的獨特的推拉式可隱蔽結(jié)構(gòu)，不僅節(jié)省了設(shè)備占地，而且可以進行隱蔽，確保安全和防塵。證書號：ZL 200920126330.X；

5：在箱體左側(cè)開有φ80測試孔，并配有硅橡膠密封塞；

6：結(jié)合實驗室工作通電時遵循更方便，更安全的原則，在箱體前左下側(cè)配置220V電源接線端子和二組任意電壓（380V以內(nèi)）的接線端子及電源插座。從而使人性化理念充分得到體現(xiàn)；

7：確保低溫系統(tǒng)主件冷凝器通風(fēng)良好，減少灰塵，在其前面設(shè)置有一不銹鋼過濾網(wǎng)，清洗灰塵時橫向取出即可;

8：為了便于對供水系統(tǒng)的水箱加水，在箱體正前面設(shè)置抽屜式水箱，加水時平行拉出水箱，然后垂直向上取出加濕水桶補水。但此時水箱里的水足夠供給整個水路系統(tǒng)。解決了過去的濕熱箱補水時會給試驗設(shè)備帶來溫度波動，該水路系統(tǒng)已獲國家專利局頌發(fā)專利證書。

四：制冷系統(tǒng)

為保證制冷機組和電控柜的正常散熱，降低機組運行噪聲及試驗箱體積，我們首次成功采用了高效冷凝器及冷凝風(fēng)機前置的安裝方式，風(fēng)循環(huán)方式由前底部進風(fēng)至后上部出風(fēng)，這種獨特的風(fēng)循環(huán)大大的提高了系統(tǒng)的可靠性，并且更利于用戶現(xiàn)場小場地和產(chǎn)品聯(lián)排安裝。低溫系統(tǒng)在總結(jié)原型機基礎(chǔ)上，對系統(tǒng)的可靠性及能量調(diào)節(jié)方面融入了更多的元素。低溫系統(tǒng)主要部件集中在低溫機組上，該機組吸取了國內(nèi)外機組先進技術(shù)，巧妙布局，維修方便。壓縮機采用法國原產(chǎn)泰康全封閉壓縮機，組成二元復(fù)疊式制冷。各制冷配件均采用國際知名品牌，大大的提高了機組的可靠性。

在能量調(diào)節(jié)上，雖然還是采用傳統(tǒng)的可靠性相當(dāng)高的熱平衡方式，但是在制冷量上進行了精確的控制，配備的主副快冷、冷旁通、熱旁通、卸載旁通等隨設(shè)備運行自動控制，在任意低溫溫度點恒定時僅需相當(dāng)小的加熱量。先進的蒸發(fā)器設(shè)計，可以保證在設(shè)定溫度在－20℃之上僅需啟動單極壓縮機。這些措施都是在保證可靠性的同時，大大降低用戶的使用成本。同時，低溫系統(tǒng)的配置也將壓機的效率發(fā)揮到極致，經(jīng)反復(fù)測試即便在較高環(huán)境溫度下，從常溫降到－70℃的時間均小于80 Min。

五：控制系統(tǒng)

該系統(tǒng)控制器采用我公司自主研發(fā)，擁有專利的新一代環(huán)境試驗設(shè)備控制器SDEI-P300或P200。SDEI-P200采用進口德國SIEMENS公司產(chǎn)S7系列邏輯控制器作為中央處理器，配備數(shù)字I/O模塊和模擬I/O模塊，內(nèi)部具有PID運算控制器功能，人機界面（HMI）采用進口彩色屏幕（8″P300為7″）液晶觸摸顯示屏，控制界面采用全中文顯示，具備開機顯示LOGO及簡短、清晰的實驗箱保養(yǎng)注意事項顯示，可程序/定值運行。每個操作界面均為全中文顯示操作方法，操作界面所有關(guān)鍵操作都設(shè)有3級密碼，防止非授權(quán)操作，可實時顯示各參數(shù)曲線，如試驗參數(shù)、曲線、時間、加熱器工作狀態(tài)，同時具有定時開停機，試驗程序自動運行，運行保持，斷電回復(fù)斷點續(xù)接功能，并具有歷史記錄查看功能。

讓控制更能貼合客戶的實際使用需求

該系統(tǒng)具有完善的檢測裝置，自動進行詳細(xì)的故障顯示、報警。所有報警事件都將發(fā)生時間和消失時間記錄于歷史表格中。同時系統(tǒng)將彈出報警畫面，指示故障點，提出解決方法和咨詢電話。

該系統(tǒng)智能化程度高，具備自動組合制冷、加熱等子系統(tǒng)的工況，從而保證在整個溫度范圍內(nèi)的高精度控制，同時達(dá)到節(jié)能、降噪的目的。

該系統(tǒng)可選配置計算機通訊接口及計算機輔助控制系統(tǒng)所組成的上、下位機控制裝置，可實現(xiàn)聯(lián)機數(shù)據(jù)傳輸及遠(yuǎn)程控制功能，通過上位PC機可以對下面試驗箱進行實時監(jiān)控操作，即可以單獨采用觸摸屏操作，同時也可采用PC機監(jiān)控操作。

GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

GB/T 2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

GB/T 2423.3-2004 試驗Dab：恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008 試驗Db：交變濕熱試驗

GJB 150.3-1986 高溫試驗

GJB 150.4-1986 低溫試驗

GJB 150.9-1986 濕熱試驗

GB10589－89 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB11158－89 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件

熊剛（1973～），男，重慶市人，重慶四達(dá)試驗設(shè)備有限公司，工程師，從事環(huán)境摸擬裝置開發(fā)研究工作。

G Series New Model Humidity and High/Low Temperature Test Chamber

The paper introduces the new generation of environment test equipment most resently researched and developped. It is used for high/low temperature and humidity test about electric-products, material, components,and equipment, in the field of aviation ,spaceflight, communication, electron, instrument electric and electronic products, etc.

temperature；humidity；test chamber；patent；characteristic；technique difficulty