周國飛,龔 敏,鄔齊榮
(四川大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院微電子技術(shù)四川省重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,成都 610064)
隨著數(shù)字信號處理越來越廣泛的應(yīng)用,數(shù)字鎖相環(huán)DPLL(Digital Phase Lock Loop)在現(xiàn)代集成電路設(shè)計(jì)中也越來越普遍,特別是在數(shù)字信號處理器DSP和微處理器這類高性能數(shù)字電路應(yīng)用中,數(shù)字鎖相環(huán)更是一種必不可少的電路。與傳統(tǒng)的模擬鎖相環(huán)(Analog Phase-Locked Loop)相比,由于數(shù)字鎖相環(huán)較少采用高阻值電阻、電容以及電感等非線性器件,可以采用與高速數(shù)字邏輯電路相兼容的制造工藝來設(shè)計(jì)和制造,也更加容易在數(shù)字系統(tǒng)中應(yīng)用。
一個(gè)典型的數(shù)字鎖相環(huán)結(jié)構(gòu)如圖1所示[1],數(shù)控振蕩器DCO(Digital-Controlled Oscillator)是其中最關(guān)鍵和核心的部分。數(shù)控振蕩器DCO輸出了可變頻率的振蕩波形,決定了整個(gè)鎖相環(huán)的噪聲性能和功耗。數(shù)字時(shí)間轉(zhuǎn)換器(Ti me-t o-D ig it al Converter)輸出了參考時(shí)鐘和反饋來的輸出時(shí)鐘之間的相位差,一個(gè)數(shù)字環(huán)形濾波器(Digital Loop Filter)代替了模擬環(huán)形濾波器來控制DCO,由與參考時(shí)鐘的相位差來控制DCO輸出或高或低的振蕩頻率,輸出振蕩信號由負(fù)反饋送到數(shù)字時(shí)間轉(zhuǎn)換器,使相位差減小,最終讓輸出信號頻率與參考時(shí)鐘頻率一致,即達(dá)到相位鎖定。整個(gè)DCO因此不再需要含有電容或電感,同時(shí)也減少漏電流和電源噪音的問題。
數(shù)控振蕩器有多種實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu),本文設(shè)計(jì)了一種完全采用靜態(tài)CMOS邏輯電路的DCO結(jié)構(gòu),該DCO基于由CMOS反相器構(gòu)成的環(huán)形振蕩器,其電路結(jié)構(gòu)如圖2所示。
如圖2所示,每一級環(huán)形振蕩器均是5個(gè)CMOS反相器串聯(lián),并構(gòu)成閉環(huán)負(fù)反饋回路,每個(gè)反相器的輸出也與下一級環(huán)形振蕩器對應(yīng)的反相器輸出相連。根據(jù)巴克豪森準(zhǔn)則:振蕩器要產(chǎn)生振蕩,那么環(huán)路增益必須大于等于一且總相移有360°。因此環(huán)路中進(jìn)行反相的次數(shù)必須是奇數(shù),三個(gè)以上的奇數(shù)個(gè)CMOS反相器串聯(lián)閉環(huán)回路,在一個(gè)微小的激勵下都能夠產(chǎn)生振蕩。單級環(huán)形振蕩器的振蕩頻率由反相器個(gè)數(shù)和其本征延遲決定,用n表示反相器個(gè)數(shù),tr表示反相器上升沿延遲,tf表示反相器下降沿延遲,頻率可以用下式表示為[2]:
反相器下降延遲tf和上升延遲tr根據(jù)下列公式定義[2],式中Rn、Rp分別為圖2(b)中反相器PMOS管M0、M1和NMOS管M2、M3的等效電阻,Cout為反相器輸出電容。
設(shè)置電路中所有MOSFET的溝道長度都為90nm工藝設(shè)計(jì)規(guī)范的默認(rèn)值0.1 μm。因?yàn)樵诔叵翹溝道中的電子遷移率大約是P溝道中的空穴遷移率的2~3倍,因此設(shè)置PMOS管的寬度Wp是NMOS管寬度Wn的2倍,使反相器中NMOS管和PMOS管的等效電阻近似相等,即Rn=Rp,也就使tr=tf。
下降延遲tr和上升延遲tf相等可以讓環(huán)形振蕩器產(chǎn)生對稱性比較好的波形,提高振蕩器的抗噪聲性能。
每一級的5個(gè)CMOS反相器由一個(gè)高電平有效的輸入信號控制,同時(shí)打開或者關(guān)閉,讓DCO中的環(huán)形振蕩器逐級打開或者逐級關(guān)閉。當(dāng)打開的環(huán)形振蕩器級數(shù)越多,電路中的振蕩電流越強(qiáng),電路輸出的振蕩頻率就越快。反之,當(dāng)打開的環(huán)形振蕩器級數(shù)越少,電路中的振蕩電流減弱,但因?yàn)檎麄€(gè)DCO中的環(huán)形振蕩器總級數(shù)是一定的,因此整個(gè)DCO中的等效電容并沒有減少,所以輸出的振蕩頻率就會下降。因此,該數(shù)控振蕩器是通過控制打開的環(huán)形振蕩器級數(shù),數(shù)字化地控制振蕩頻率,在DPLL中需要一個(gè)前置的數(shù)字環(huán)形濾波器提供輸入信號,控制各級振蕩器的打開或關(guān)閉。
當(dāng)所有環(huán)形振蕩器都打開時(shí),無論該DCO中總共有多少級環(huán)形振蕩器,DCO輸出的振蕩波形的最大頻率fmax都為式(1)表示的單個(gè)環(huán)形振蕩器振蕩頻率。輸出的最小頻率fmin也就是當(dāng)只有一級環(huán)形振蕩器打開時(shí)的DCO輸出頻率。由此分析,DCO的增益可以如下式表示,式中N為電路中總的環(huán)形振蕩器級數(shù):
由上述分析可見,當(dāng)該DCO中具有的總的環(huán)形振蕩器級數(shù)越多,可以輸出的fmin越小,KDCO也越小,也就是每一級環(huán)形振蕩器開關(guān)所控制的頻率增減也越小,振蕩器線性度也就越好。
本文基于STMicroelectronics的90nm CMOS混合信號工藝,采用Cadence Virtuoso設(shè)計(jì)軟件,使用Analog Environment中的Spectre仿真器進(jìn)行仿真。由于電路完全與數(shù)字集成電路工藝兼容,因此也可以采用諸如硬件描述語言來設(shè)計(jì)電路。
由32級環(huán)形振蕩器構(gòu)成的數(shù)控振蕩器DCO在Cadence Virtuoso中的仿真電路如圖3所示,在本文的仿真中,是使用直流電壓作為控制DCO各級環(huán)形振蕩器打開或者關(guān)閉的輸入信號。
電路中電源電壓VDD=1.2V,所有MOSFET均采用9 0 n m工藝庫中的標(biāo)準(zhǔn)電壓晶體管S V T(Standard Voltage Transistor),其閾值電壓為Vthn=0.3V,|Vthp|=0.3V。當(dāng)32級環(huán)形振蕩器逐級打開,數(shù)控振蕩器輸出波形的振蕩頻率也逐級上升,整個(gè)數(shù)控振蕩器的頻率調(diào)節(jié)范圍如圖4所示。
當(dāng)32級DCO中的18級環(huán)形振蕩器打開的時(shí)候,DCO的相位噪聲如圖5所示。相位噪聲由Spectre仿真器的pss分析和pnoise分析測得。
該32級數(shù)控振蕩器的相位噪聲和功耗如表1所示,隨著環(huán)形振蕩器逐級打開,相位噪聲和功耗都明顯上升,這是獲得高頻率輸出波形所付出的性能代價(jià)。先測得單個(gè)反相器的平均電流,測得各個(gè)打開的反相器平均電流均約為14 μA,由下式可以得到電路的總功耗,式中N為打開的環(huán)形振蕩器級數(shù)。
為了研究環(huán)形振蕩器級數(shù)對頻率調(diào)節(jié)范圍的影響,將數(shù)控振蕩器的級數(shù)減少至18級或12級,再分別測試其頻率調(diào)節(jié)范圍。三種不同級數(shù)數(shù)控振蕩器調(diào)節(jié)范圍的對比如圖6所示,不同級數(shù)的數(shù)控振蕩器fmax相等,但fmin隨著數(shù)控振蕩器的總級數(shù)增加而減小,且KDCO也變小,調(diào)節(jié)線性度更好。
進(jìn)一步測試器件尺寸對數(shù)控振蕩器性能的影響,當(dāng)器件寬度Wn和Wp增加,反相器中的平均電流增加,可以輸出更高的頻率并減小電路中器件噪聲導(dǎo)致的相位噪聲,這對高性能電路是有意義的,但電路功耗也隨之增加。對于18級數(shù)控振蕩器,保持電路中全部MOSFET的溝道長度不變,同時(shí)增大圖2(b)中的NMOS管M2、M3的Wn和PMOS管M0、M1的Wp至原尺寸的1.5倍后測得的頻率調(diào)節(jié)范圍如圖7所示,全部環(huán)形振蕩器共18級打開后的DCO功耗 及相位噪聲如表2所示。
該數(shù)控振蕩器結(jié)構(gòu)采用全靜態(tài)CMOS邏輯電路來設(shè)計(jì),獲得了線性度較好的頻率調(diào)節(jié)范圍,在90nm混合信號工藝條件下全DCO電路功耗在3mV左右,10MHz處相位噪聲低于-110 dBc/Hz,性能相比傳統(tǒng)LC壓控振蕩器有過之而無不及,非常適合應(yīng)用于高性能數(shù)字電路中。在用該數(shù)控振蕩器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)DPLL時(shí),應(yīng)進(jìn)一步增加環(huán)形振蕩器級數(shù)以提供線性度更好的可調(diào)輸出頻率范圍,并需要前置數(shù)字環(huán)形濾波器提供相配合的控制信號。
[1]Robert Bogdan Staszewski.All-Digital Frequency Synthesizer in Deep-Submicron CMOS [M].A John Wiley & Sons,Inc, 2006.110-112.
[2]R.Jacob Baker.CMOS Circuit Design, Layout, and Simulation [M].Wiley, 2008.383.
[3]Jose A.Tierno, Alexander V.Rylyako, Daniel J.Friedman.A Wide Power Supply Range, Wide Tuning Range, All Static CMOS All Digital PLL in 65nm SOI [J].IEEE Journal of Soild-States Circuits, January 2008, 43(1): 42-51.
[4]Behzad Razavi.Design of Analog CMOS Integrated Circuits [M].McGraw-Hill Companies Inc, 2001.483-491.