摘要：為了研究小麥穗發(fā)芽的抗性水平，揭示其遺傳機(jī)理，并篩選抗性較強(qiáng)的家系用于育種實(shí)踐，利用黃淮海地區(qū)主要推廣的兩個(gè)小麥品種花培3號(hào)／豫麥57構(gòu)建的DH群體和基于混合線性模型的QTLNetwork2.0軟件，對(duì)3種環(huán)境下的小麥整穗發(fā)芽進(jìn)行了QTL定位分析。3種環(huán)境條件下分別檢測到3、3、2個(gè)與整穗發(fā)芽相關(guān)的加性QTL位點(diǎn)，這些位點(diǎn)分別位于1B、2B、4A和5D染色體上，總共可解釋23.28％、21.83％和11.55％的表型變異。在所有檢測到的QTL位點(diǎn)中，只有qPhs5D.1位點(diǎn)在3個(gè)環(huán)境中均能檢測到，剩余位點(diǎn)只能在單獨(dú)一個(gè)環(huán)境中檢測到。3種環(huán)境條件下分別檢測到2對(duì)、1對(duì)和2對(duì)上位性位點(diǎn)，總共可解釋8.01％、9.50％和21.67％的表型變異，不同環(huán)境條件下，檢測到的上位性位點(diǎn)均不相同。結(jié)果表明，小麥整穗發(fā)芽的遺傳同時(shí)受加性效應(yīng)和上位性效應(yīng)控制，且易受環(huán)境條件的影響。

關(guān)鍵詞：小麥；DH群體；整穗發(fā)芽；QTL分析

中圖分類號(hào)：S512.103 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)號(hào)：A 文章編號(hào)：1001－4942(2010)06－0019－05