馬　爽　徐　欣

摘要：提出用超高速A/D轉(zhuǎn)換芯片ADc08D1000作為系統(tǒng)前端采樣電路的方法，以解決工程中嚴(yán)重系統(tǒng)性能的采樣速率和采樣精度問(wèn)題。詳細(xì)介紹ADc08D1D00的原理與功能，用VHDL語(yǔ)言編寫(xiě)普通模式和擴(kuò)展模式下的控制程序。針對(duì)工程中的實(shí)際情況進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)，用延遲初始化、自校準(zhǔn)等方法解決了發(fā)熱、周?chē)h(huán)境變化對(duì)芯片的影響等問(wèn)題。該程序結(jié)構(gòu)清晰，參數(shù)修改方便，具有一定的通用性。最后給出此芯片工程實(shí)踐中的采樣結(jié)果。ADC08D1000性能出色，能滿足最高頻率1GHz以下大多數(shù)信號(hào)的采樣要求，在工程實(shí)踐中已經(jīng)得到使用，并取得了良好的效果。