基于Ｅｃｌｉｐｓｅ的開發(fā)環(huán)境中調(diào)試器設(shè)計與實現(xiàn)
2009-05-31 05:43:04張君毅李洪威桑釗孟小鎖
現(xiàn)代電子技術(shù) 2009年6期
張君毅 李洪威 桑 釗 孟小鎖
摘要：調(diào)試功能是軟件集成開發(fā)環(huán)境中最重要也是最復(fù)雜的功能之一，調(diào)試功能的完善與否很大程度上決定了一個集成開發(fā)環(huán)境的優(yōu)劣。作為一個大型軟件集成開發(fā)環(huán)境的一部分，為了實現(xiàn)其調(diào)試功能，這里通過簡要分析Eclipse CDT的調(diào)試機(jī)制，設(shè)計并實現(xiàn)了一個應(yīng)用于基于Eclipse CDT的嵌入式開發(fā)環(huán)境的調(diào)試器，其中實現(xiàn)了一系列調(diào)試功能如斷點設(shè)置、單步執(zhí)行、源代碼搜索以及變量、內(nèi)存和寄存器查看等，為整個集成開發(fā)環(huán)境的實現(xiàn)打下了基礎(chǔ)。
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