駱　軍　朱航天　梁敬魁

摘要文章介紹了根據(jù)x射線粉末衍射線形測定試樣晶粒度和點陣畸變(應變)的主要方法，并以c03 04納米材料晶粒度和應變的測量為例加以說明，通過與掃描電鏡觀察的統(tǒng)計結(jié)果進行比較，分析了各種方法計算晶粒尺寸的可靠性和適用性，

關(guān)鍵詞x射線粉末衍射，晶粒尺寸，應變，納米顆粒