摘 要:提出了一種全MOS管結(jié)構(gòu)的低壓低功耗電壓基準(zhǔn)源,他利用一個(gè)工作在亞閾值區(qū)的MOS管具有負(fù)溫度特性的柵-源電壓與一對(duì)工作在亞閾值區(qū)的MOS管所產(chǎn)生的具有正溫度特性的電壓差進(jìn)行補(bǔ)償。電路采用標(biāo)準(zhǔn)的0.6 μm CMOS工藝設(shè)計(jì),已成功應(yīng)用于一個(gè)低壓差線性穩(wěn)壓器(LDO)中,具有優(yōu)良的溫度穩(wěn)定性,在-40~+120 ℃范圍內(nèi)能達(dá)到37.4 ppm/℃,并可以在供電電壓為1.4~5.5 V下工作,其總電流僅為4 μA。
關(guān)鍵詞:電壓基準(zhǔn);亞閾值區(qū);低壓低功耗;MOS管
中圖分類號(hào):TN432 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:B
文章編號(hào):1004373X(2008)0115603
Design of a Low-voltage Low-power MOSFET-only Voltage Reference
ZHANG Changxuan,XIE Guangjun
(Microelectronics and Solid-State College,Hefei University of Technology,Hefei,230009,China)
Abstract:A low-voltage low-power MOSFET-only voltage reference circuit is proposed,which has a better temperature stability,it is 37.4 ppm/℃ from -40 ℃ to 120 ℃.It is based on compensating a PTAT of a pair sub-threshold MOSFETs with the gate-source voltage of a sub-threshold MOSFET.The reference circuit is implemented in a standard 0.6 μm CMOS process,used in a low dropout regulator.The circuit supply voltage is 1.4~5.5 V and the quiescent current is 4 μA.
Keywords:voltage reference;sub-threshold region;low-voltage low-power;MOS
近幾年來,隨著無線通信業(yè)的高速成長(zhǎng),采用電池供電的模擬或模數(shù)混合電子產(chǎn)品得到迅猛發(fā)展,尤其是采用CMOS標(biāo)準(zhǔn)工藝的低電壓、低功耗模擬電路受到越來越多的重視。低電壓的模擬電路不但能大幅度降低電路功耗,而且能增強(qiáng)電路穩(wěn)定性。在電子設(shè)計(jì)行業(yè)內(nèi)有一種說法:電源電壓越低越好。盡管電源電壓并不是決定電路功耗的惟一因素,但其影響居于主導(dǎo)地位。
傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)源是根據(jù)雙極型晶體管的VBE和ΔVBE的溫度特性來設(shè)計(jì)的,在CMOS工藝中采用了寄生的PNP管進(jìn)行設(shè)計(jì),其帶隙基準(zhǔn)電壓為[1]:
是溫度為T0時(shí)的基準(zhǔn)電壓,VG0是帶隙電壓(1.205 V),對(duì)于典型值γ=3.2,α=1,Vref=1.262 V[1]。所以一般的帶隙基準(zhǔn)電路其基準(zhǔn)電壓都大于帶隙電壓,難以實(shí)現(xiàn)低壓。本文采用全MOS管結(jié)構(gòu),所設(shè)計(jì)的基準(zhǔn)電壓不再受帶隙電壓的限制,很容易達(dá)到1 V以下,便于為一些低壓模擬電路提供基準(zhǔn)源,且無需引入放大器,進(jìn)一步簡(jiǎn)化了電路,所設(shè)計(jì)的電壓基準(zhǔn)源已成功應(yīng)用于一個(gè)手機(jī)電源管理的LDO芯片之中。
1 電路描述
該電路的基本原理是,將具有負(fù)溫度系數(shù)的電壓VGS和具有正溫度系數(shù)的電壓ΔVGS按照一定比例加和起來,實(shí)現(xiàn)了零溫度系數(shù)基準(zhǔn)電壓Vref。如圖1所示,一個(gè)亞閾值MOS管的VGS電壓與溫度成反比,而處于亞閾值的兩個(gè)MOS管VGS之差ΔVGS與溫度成正比,通過IVGS和I-V轉(zhuǎn)換電路將兩種溫度特性的電壓加和,即可得到一個(gè)與溫度無關(guān)的基準(zhǔn)電壓。該電路包含了一個(gè)利用亞閾值特性產(chǎn)生的偏置電路,為整個(gè)電路提供偏置。
2 偏置電流的產(chǎn)生
該偏置電路的特別之處在于:也是采用MOS管的亞閾值特性設(shè)計(jì)的,滿足低壓工作條件,其產(chǎn)生的偏置電流雖然有正溫度特性,但是并不影響零溫度系數(shù)電壓的產(chǎn)生。以下是電流IR1的推導(dǎo)過程:
4 仿真結(jié)果
該基準(zhǔn)用于一個(gè)手機(jī)電源管理的LDO芯片中,芯片正常工作時(shí)基準(zhǔn)電壓為356.5 mV,電池電壓的典型值為3.6 V。本電路采用標(biāo)準(zhǔn)的0.6 μm CMOS工藝,在Cadence SPECTRE軟件上,按電源電壓為3.6 V,溫度由-40~+120 ℃變化進(jìn)行仿真。仿真波形如圖4所示,從圖4結(jié)果中可以計(jì)算出溫度系數(shù)為37.4 ppm/℃,此溫度范圍比文獻(xiàn)[6]范圍增大。
5 結(jié) 語(yǔ)
本文設(shè)計(jì)了一種低壓低功耗的電壓基準(zhǔn)源, IVGS及I-V轉(zhuǎn)換電路巧妙地把正溫度與負(fù)溫度特性的電壓加和,產(chǎn)生了基準(zhǔn)電壓,與文獻(xiàn)[6]比較,本文中基準(zhǔn)電壓只受到電阻比值的影響,但是與電阻的絕對(duì)值是沒有關(guān)系的,所以其溫度特性不受電阻溫度性能影響,比文獻(xiàn)[6]溫度特性更加穩(wěn)定,該電路提高了溫度范圍,由-20~+80 ℃提高到了-40~+120 ℃,電源抑制比也有所改善。仿真結(jié)果表明,該電壓基準(zhǔn)有較高的溫度穩(wěn)定性、低的工作電壓和功耗,且電路簡(jiǎn)單,僅用MOS管就實(shí)現(xiàn)了基準(zhǔn)的產(chǎn)生,電壓精度高達(dá)0.2%,完全可以滿足低功耗、高精度LDO線性穩(wěn)壓器的性能要求。
參 考 文 獻(xiàn)
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作者簡(jiǎn)介
張昌璇 女,1983年出生,合肥工業(yè)大學(xué)微電子與固體電子學(xué)碩士研究生。主要從事模擬電路設(shè)計(jì)及其研究。
注:“本文中所涉及到的圖表、注解、公式等內(nèi)容請(qǐng)以PDF格式閱讀原文?!?/p>