摘要:從理論上給出一種Rice衰落條件下Reed—solomon碼級聯(lián)空時分組碼系統(tǒng)的差錯性能分析方法,并推導(dǎo)給出級聯(lián)碼誤比特率上界的數(shù)學(xué)表達(dá)式。理論分析和仿真結(jié)果表明,隨著信噪比的增加,級聯(lián)碼系統(tǒng)的性能曲線迅速變好,獲得了很高的編碼增益。在誤比特率為10-4時,與Reed—solomon碼的級聯(lián)可以使衰落條件下空時分組碼的性能提高大約5dB。
現(xiàn)代電子技術(shù)2008年21期
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