摘要：目的 探討短暫性腦缺血發(fā)作(TIA)病人腦梗死的發(fā)生率與磁共振的表現(xiàn)以及相關的臨床因素。方法 對176例TIA病人臨床資料與評估進行分析。結果 磁共振檢查發(fā)現(xiàn)有梗死灶101例。其中單發(fā)新鮮梗死灶53例，多發(fā)新鮮灶26例，新舊灶并存22例。81例有血管病變，52例為頸內(nèi)系統(tǒng)病變，表現(xiàn)為偏側肢體無力為主。TIA癥狀持續(xù)時間超過30min及發(fā)作次數(shù)>3次者腦梗死的發(fā)生率較高。接受抗凝治療和抗血小板治療預后較好。結論 TIA可由多種病因引起，反復多次發(fā)作、發(fā)作持續(xù)時間較長者容易發(fā)生腦梗死。

關鍵詞：短暫性腦缺血發(fā)作；腦梗死；磁共振

中圖分類號：R743.31 R256

文獻標識碼：B

文章編號：1672—1349(2006)02—0111—02