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2017年11期
刊物介紹
本刊是目前國內(nèi)唯一以電子封裝為主的技術(shù)刊物。
電子與封裝
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封裝、組裝與測(cè)試
光窗封接工藝對(duì)光電外殼抗強(qiáng)沖擊影響的研究
無壓惰性氣氛銀燒結(jié)層空洞率影響因素研究*
基于ATE的SRAM測(cè)試
LDO芯片CP通用測(cè)試方法研究
電路設(shè)計(jì)
基于SiGe BiCMOS工藝的射頻ESD電路設(shè)計(jì)
一種數(shù)字高精度秒脈沖生成方法
四通道數(shù)字隔離器設(shè)計(jì)
應(yīng)用于高壓接口電路的SCR ESD保護(hù)研究
FPGA上電復(fù)位過程的存儲(chǔ)單元讀寫檢測(cè)方法
微電子自造與可靠性
11~12 GHz單電源GaN微波功率放大模塊研制
掩模圖形切割方式對(duì)曝光時(shí)間的影響研究
柵氧化方式對(duì)NMOS器件總劑量電離效應(yīng)的影響
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