劉蘭坤,王占奎
(中國電子科技集團公司 第十三研究所,河北 石家莊 050051)
隨著我國宇航技術(shù)的發(fā)展,系統(tǒng)對高可靠高穩(wěn)定恒溫晶體振蕩器的需求越來越緊迫,目前高穩(wěn)定度高頻恒溫晶振主要依靠進口,因此設(shè)計一種高可靠高穩(wěn)定恒溫晶振十分必要。
本文設(shè)計了一種輸出頻率100MHz、短期穩(wěn)定度優(yōu)于2*1012/s,相位噪聲優(yōu)于-72dBc/Hz@1Hz,-105dBc/Hz@10Hz,-135dBc/Hz@100Hz的高可靠、高穩(wěn)定度恒溫晶振,主要用于宇航應(yīng)用系統(tǒng)。
恒溫晶振是將石英晶體諧振器置于一個恒溫槽中,采用精密控溫系統(tǒng)對恒溫槽加熱,使位于恒溫槽內(nèi)的石英晶體諧振器工作在其頻溫曲線拐點溫度下,以獲得高穩(wěn)定度的晶體振蕩器。本文選用恒溫晶振方案實現(xiàn),方案由穩(wěn)壓電路、振蕩放大電路、控溫系統(tǒng)及晶體諧振器組成,原理框圖如圖1示。
圖1 恒溫晶體振蕩器原理框圖
衡量晶體振蕩器穩(wěn)定度性能的最重要指標是短期穩(wěn)定度,短期穩(wěn)定度在時域和頻域內(nèi)的表征分別是阿侖方差和相位噪聲。
短期穩(wěn)定度是指由噪聲引起的振蕩頻率的變化。反饋振蕩器由放大器和反饋網(wǎng)絡(luò)組成,在放大器和反饋網(wǎng)絡(luò)中,噪聲通過對振蕩器輸出信號進行干擾或調(diào)制而影響振蕩器的短期穩(wěn)定度。相位噪聲的數(shù)學(xué)研究方法主要有線性時不變方法[1]、Lesson噪聲模型[2]等。本文選用Lesson噪聲模型進行分析。
式中:SΔφ(f)為振蕩器輸出相位噪聲譜密度,SΔθ(f)f0為振蕩器環(huán)路內(nèi)部相位譜密度,f為振蕩器輸出頻率,QL為偏離輸出頻率,為回路有載品質(zhì)因數(shù)。
為方便分析,設(shè)振蕩器環(huán)路(放大器)中只存在閃變噪聲和白噪聲,則振蕩器環(huán)路輸出單邊帶相位噪聲譜密度為[3]:
式中:α為取決于1/f噪聲電平的常數(shù),β=4kTF/Ps.k為玻爾茲曼常數(shù),T為絕對溫度,F(xiàn)為噪聲系數(shù),Ps為振蕩器輸入的信號功率。
將式(2)代入式(1)得輸出信號的相位噪聲譜密度為:
將(3)式寫成如下冪級數(shù)形式:
根據(jù)時域與頻域的轉(zhuǎn)換關(guān)系可求得阿侖方差為:
式中:σy(τ)為阿侖方差,τ為采樣時間,fh測試帶寬。
將各噪聲有關(guān)的系數(shù)值代入式中,得出阿侖方差表達式為:
式(5)表征了各類噪聲對振蕩器的短期穩(wěn)定度影響。經(jīng)過分析可知,對振蕩器秒級短期穩(wěn)定度影響最大的因素是閃頻噪聲。為降低振蕩器的閃變噪聲,設(shè)計中一方面要選取品質(zhì)因數(shù)Q值較高的晶體諧振器,并選擇合適的振蕩電路形式,盡可能提高振蕩回路有載品質(zhì)因數(shù)值,另一方面振蕩電路要選用低噪聲的晶體管,并合理設(shè)置穩(wěn)定的工作點。
振蕩電路是實現(xiàn)振蕩器優(yōu)異穩(wěn)定度的關(guān)鍵,因此是晶振高穩(wěn)定度的設(shè)計重點。本文采用有載品質(zhì)因數(shù)值較好的巴特勒電路[4],如圖2所示。在電路中晶體諧振器接在振蕩晶體管的發(fā)射極,工作在自身串聯(lián)諧振頻率上,呈純阻性,起到對諧振頻率進行高Q選頻作用,為電路提供反饋,屬于串聯(lián)反饋型振蕩電路。
圖2 巴特勒電路等效原理圖
為了提高秒級短期穩(wěn)定度,本文對巴特勒電路進行改進,將振蕩信號從振蕩晶體管的集電極采用部分接入方式引出,降低負載對振蕩電路品質(zhì)因數(shù)Q的影響。
振蕩電路中振蕩晶體管選用噪聲系數(shù)低、放大倍數(shù)高、截止頻率高的高頻低噪聲晶體三極管。本文選用的三極管噪聲系數(shù)優(yōu)于2.5dB,截止頻率大于700MHz。
振蕩電路中的晶體諧振器選用高品質(zhì)因數(shù)Q值的SC切5次泛音100MHz晶體,選用合理的等效電阻和拐點溫度,保證滿足高穩(wěn)定度。
本文設(shè)計中振蕩信號從振蕩晶體管集電極引出,選用低輸入阻抗的共基低噪聲放大器。放大電路晶體管選用與振蕩級同型號的低噪聲三極管,采取適當?shù)呢摲答仯档碗娐?/f 噪聲。輸出端采用電容分壓帶負載方式實現(xiàn)阻抗匹配,并加入低通濾波電路,有效隔離振蕩電路與輸出端,減小負載對振蕩狀態(tài)的影響,進而提高信輸出信號穩(wěn)定性。
面向宇航應(yīng)用需求,本文在電路設(shè)計、元器件選用、結(jié)構(gòu)設(shè)計等方面遵循宇航標準,滿足宇航環(huán)境適應(yīng)性要求。
為了提高產(chǎn)品固有可靠性,將電路設(shè)計方案中的穩(wěn)壓電路、振蕩放大電路和控溫加熱電路按照電路功能,將有源器件通過混合集成工藝制成高可靠混合集成模塊電路。在混合集成電路模塊外圍連接必要的無源元件最終構(gòu)成高可靠晶振成品,晶振總體結(jié)構(gòu)形式簡單,可靠性大大提高。
為了提高產(chǎn)品使用可靠性,晶振外殼采用重量輕、剛度高的鋁合金盒體結(jié)構(gòu)。電路板安裝通過引腳焊接方式固定于盒體內(nèi)部,并通過內(nèi)部加固方式提高晶振固有機械模態(tài)頻率[5]。在晶振管殼上設(shè)計有四個安裝孔,可以通過螺釘安裝緊固到結(jié)構(gòu)中,再將晶振的引腳焊接引出,充分保證了產(chǎn)品的可靠性。
本文所有器件均選用宇航級器件,器件均滿足降額的要求。
晶振的核心器件晶體諧振器,本文選用了抗振動、抗沖擊性能較好的多點支撐的TO-5封裝SC切冷壓焊晶體。TO-5的冷壓焊晶體為四點支撐結(jié)構(gòu),從力學(xué)方面分析可知TO-5封裝晶體支撐強度大大提高,其抗沖擊能力較兩點支撐結(jié)構(gòu)大大提高;另外TO-5封裝SC切型的晶體具有應(yīng)力補償效應(yīng),抗加速度性能好。
本文最終研制設(shè)計的恒溫晶體振蕩器體積為38mm×38mm×16mm,如圖3所示。
圖3 實物照片
對設(shè)計研制的100MHz高可靠高穩(wěn)定恒溫晶體振蕩器的度短期穩(wěn)定度進行了測試,實際測試相位噪聲為-72dBc/Hz@1Hz,-105dBc/Hz@10Hz,-135dBc/Hz@100Hz,-161dBc/Hz@1kHz,見圖4。測試阿侖方差為在100ms和1s均達到2×1012。具有很好的頻率穩(wěn)定性。
圖4 相位噪聲實測曲線
本文從高穩(wěn)定度電路設(shè)計及高可靠性設(shè)計兩方面開展了100MHz高可靠高穩(wěn)定度恒溫晶體振蕩器的分析和研究,研制的產(chǎn)品可靠性滿足宇航應(yīng)用預(yù)期,性能指標與國外同類產(chǎn)品達到同一水平,對我國高可靠恒溫晶振技術(shù)發(fā)展具有重要意義。