王偉軍
(廣西機(jī)電職業(yè)技術(shù)學(xué)院,廣西 南寧 530007)
電廠設(shè)備的大部分零件長(zhǎng)期處于高壓、高溫、蒸汽介質(zhì)中,應(yīng)力腐蝕、蠕變、氫蝕、疲勞等引起的老化問(wèn)題較為突出。在對(duì)設(shè)備進(jìn)行維修、壽命評(píng)估等方面,超聲技術(shù)是目前最常用、使用最廣的一種方法。超聲技術(shù)在薄管到厚管、表面到內(nèi)部的缺陷檢測(cè)中具有快速、現(xiàn)場(chǎng)檢查、分析方便、自動(dòng)化程度高等諸多優(yōu)勢(shì)。超聲檢測(cè)材料的缺陷檢測(cè),超聲信號(hào)通常很弱,變化也很小。為了精確地捕獲和分析這些微小的信號(hào),需要高性能的測(cè)量系統(tǒng)。
超聲檢測(cè)影響因素主要有定位和定量分析兩方面。
1.1.1 波束方向發(fā)生偏離
若波速與探測(cè)器指定輻照方向不符,則會(huì)造成測(cè)距精度偏差。產(chǎn)生誤差原因有探頭質(zhì)量問(wèn)題、被檢對(duì)象狀況、被檢物體材料、受檢對(duì)象內(nèi)應(yīng)力、被檢表面形狀、被檢物品邊界環(huán)境、工作溫度、斜楔底表面磨損等。在檢測(cè)過(guò)程中,被檢對(duì)象狀態(tài)主要是由于檢測(cè)結(jié)果粗糙,會(huì)造成探針與其之間接觸不良,從而產(chǎn)生錯(cuò)誤。由于被檢物體材料不同,在超聲波探傷中,由于材料不同,會(huì)造成不同結(jié)果。被測(cè)物體內(nèi)應(yīng)力也是造成測(cè)量誤差一個(gè)因素,當(dāng)物體內(nèi)部有很大內(nèi)應(yīng)力時(shí),會(huì)引起超聲速度和方向變化,從而產(chǎn)生偏差。如果不能準(zhǔn)確地掌握探針,會(huì)使探針表面形狀發(fā)生變化,使超聲波速方向發(fā)生變化,從而引起測(cè)量誤差。在被測(cè)物體邊緣處,有可能出現(xiàn)側(cè)壁干擾,引起超聲場(chǎng)壓力改變,從而造成定位精度偏差。工作環(huán)境差異對(duì)測(cè)量精度影響也很大,在介質(zhì)變換時(shí),超聲波傳播速度會(huì)發(fā)生變化,從而影響到定位波速。斜楔底部磨損是由于長(zhǎng)時(shí)間使用探針不能及時(shí)替換,造成斜楔厚度和形狀變化,使波速出現(xiàn)偏差。
1.1.2 數(shù)據(jù)讀取不準(zhǔn)
在進(jìn)行缺陷定位時(shí),若用基準(zhǔn)法測(cè)量出缺陷水平與縱向距離,則會(huì)有一定誤差,從而造成定位上錯(cuò)誤。其中,視差是造成測(cè)量誤差重要因素之一。
1.1.3 儀器的性能存在缺陷
如果測(cè)量水平線不準(zhǔn)確,就會(huì)造成測(cè)量結(jié)果偏差。在設(shè)備調(diào)試中,如果不正確校正,也會(huì)造成錯(cuò)誤。
1.2.1 性能影響因素
影響測(cè)量精度因素主要包括儀表和探測(cè)器,其性能好壞直接影響計(jì)量準(zhǔn)確率。不管是儀器縱向直線度、衰減器精度、頻率、折射角、探針形狀,或者晶圓大小,都會(huì)對(duì)回波高度產(chǎn)生直接影響。因此,在超聲波探傷中,首先,應(yīng)選用合適設(shè)備和探頭;其次,要注意頻率、晶片大小、探頭形狀、折射角度等。
1.2.2 耦合與衰減的影響
在超聲檢測(cè)中,當(dāng)回波參數(shù)較高時(shí),其耦合介質(zhì)超聲阻抗性能和耦合層厚度都會(huì)對(duì)檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生重要影響。當(dāng)檢測(cè)對(duì)象和儀表耦合狀況有差別時(shí),應(yīng)引起重視,這會(huì)造成計(jì)量準(zhǔn)確率偏差。首先,若被測(cè)對(duì)象表面有粗糙或不均勻狀況,也會(huì)導(dǎo)致耦合不良。其次,要注意介質(zhì)衰減,如在測(cè)量精度較高或工作量較大時(shí),應(yīng)測(cè)量衰減所需系數(shù),在計(jì)算時(shí)要考慮衰減問(wèn)題,以減少因衰減而產(chǎn)生誤差。
1.2.3 缺陷的影響導(dǎo)致誤差
在超聲波檢測(cè)時(shí),對(duì)被檢測(cè)對(duì)象內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè),其缺陷形狀具有非恒定性和多樣性,若不能準(zhǔn)確地進(jìn)行檢測(cè),很容易產(chǎn)生錯(cuò)誤。在缺陷位置上,也有可能會(huì)有錯(cuò)誤,在現(xiàn)實(shí)中,超聲入射方向并不一定與缺陷位置保持一致,這就會(huì)造成錯(cuò)誤。
利用激光超聲波探傷技術(shù)在同一部位通過(guò)測(cè)量物體表面位移或振動(dòng)速度,使物體表面成為傳感器,無(wú)論激光在被測(cè)物體法線方向上進(jìn)入,都不會(huì)產(chǎn)生明顯影響。激光作用于機(jī)械裝置表面使其產(chǎn)生高能量脈沖激光,受輻射區(qū)溫度升高使其局部熱膨脹形成局部應(yīng)變,當(dāng)激光功率密度達(dá)到某一數(shù)值時(shí)超聲會(huì)被激發(fā),而當(dāng)超聲波在機(jī)械裝置中發(fā)生故障時(shí)會(huì)被反射到機(jī)器表面。連續(xù)激光光束照射到機(jī)械裝置表面,因超聲波在機(jī)械裝置中傳播,包括缺陷導(dǎo)致超聲波回波傳播,會(huì)導(dǎo)致機(jī)械裝置表面微介質(zhì)振動(dòng),而連續(xù)激光反射光束會(huì)產(chǎn)生多普勒頻率影響,所以它反射光束含有超聲波信息,可以利用光學(xué)干涉技術(shù)對(duì)其進(jìn)行解調(diào),以獲取在機(jī)器中傳輸超聲波信息,達(dá)到對(duì)機(jī)械裝置進(jìn)行超聲波監(jiān)測(cè)目的。
系統(tǒng)由激光超聲波發(fā)生裝置激光接收裝置以及控制和信號(hào)處理三部分組成。激光超聲監(jiān)測(cè)機(jī)械設(shè)備故障系統(tǒng)方框圖,采用激光超聲波發(fā)生器對(duì)激光選定脈沖Nd:YAG激光器進(jìn)行監(jiān)測(cè)。激光光束由光纖傳輸?shù)奖O(jiān)視器,二者相隔不能超過(guò)400mm,實(shí)際工作中,由于探測(cè)區(qū)域外部環(huán)境較差,所以使用光纖可以使激光發(fā)生器處于較為清潔、易于控制的環(huán)境中。
2.2.1 激光超聲波接收裝置
利用干涉技術(shù),將激光在物體表面進(jìn)行反射或散射,從而達(dá)到探測(cè)超聲波目的。為得到相位信息,必須把連續(xù)光束和干涉光束進(jìn)行重疊。在干涉測(cè)量中,信號(hào)光束在輸出端相位差會(huì)被轉(zhuǎn)換為幅度改變,這種改變可以用低噪聲探測(cè)和模擬放大器進(jìn)行記錄。構(gòu)成這一部分主要設(shè)備是連續(xù)激光源(例如,光干涉計(jì)),在這種情況下,需要連續(xù)激光發(fā)射頻率與探測(cè)用脈沖激光頻率有很大不同,連續(xù)激光是單一,并且波長(zhǎng)是完全一致。
2.2.2 控制和信號(hào)處理
控制與信號(hào)處理部主要包括一臺(tái)存儲(chǔ)式示波器光電變換電路(電腦和顯示器)。其中光電監(jiān)測(cè)電路是以光電技術(shù)為核心,通過(guò)傳輸、存儲(chǔ)、控制、計(jì)算、顯示、光電監(jiān)測(cè)電路為基礎(chǔ)。由于光監(jiān)測(cè)器接收到訊號(hào)很弱,且訊號(hào)經(jīng)常被噪聲所掩蔽,所以要處理這種訊號(hào)必須經(jīng)過(guò)預(yù)處理,才能把訊號(hào)中訊號(hào)放大至訊號(hào)所需訊號(hào)。利用不銹鋼薄板、無(wú)縫鋼管等材料,對(duì)超聲波回波進(jìn)行分析。用超聲波回波測(cè)量不銹鋼薄片厚度。鋼板樣品厚度為2.75mm。相鄰超聲波回波脈沖之間間距約為△=0.85微秒,而樣品厚度是相鄰波峰脈沖之間超聲波傳播距離,而在不銹鋼板上以橫向波形式傳播,以V=3230m/s速度,不銹鋼板厚度為T=2.74mm,誤差率為8=0T/T=0.36%無(wú)縫鋼管超聲波監(jiān)測(cè)波形,見圖7。在無(wú)縫鋼管試樣上開矩形槽切口,其缺陷寬度為3mm,缺陷深度為1mm。通過(guò)監(jiān)測(cè)信號(hào)可以很好地反映出無(wú)縫鋼管缺陷。
2.3.1 BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)法
傳統(tǒng)故障診斷算法采用基于符號(hào)流推理技術(shù)進(jìn)行專家系統(tǒng)研究,然而,在專家系統(tǒng)中知識(shí)邏輯獲得難度較大同時(shí)還存在部分難以克服的困難及難以實(shí)現(xiàn)預(yù)期結(jié)果。與人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)相比,它適應(yīng)性強(qiáng)、容錯(cuò)能力強(qiáng)、并行運(yùn)算能力強(qiáng),能夠處理大量數(shù)據(jù),因此,利用人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行非線性模式識(shí)別問(wèn)題處理,就成為有效方法。
2.3.2 脈沖反射法
脈沖反射法是將超聲波信號(hào)通過(guò)探測(cè)物體內(nèi)部,再通過(guò)反射方式探測(cè)出物體表面缺陷。脈沖反射法是常見缺陷回聲方法,利用示波器所顯示缺陷波形來(lái)進(jìn)行相關(guān)監(jiān)測(cè)方法,它的基本測(cè)量方法如圖1所示。
圖1 沖反射示意圖
從圖1可以看出,在樣品正常情況下,超聲可以平穩(wěn)地傳遞到下表面,而示波器中僅顯示出兩種信號(hào)。如樣品中有瑕疵,在下表面回波之前,示波器下表面回波有缺陷見圖1。在這種監(jiān)測(cè)中,一般在示波器上存在表面波B,底面回波D,缺陷F,以及其它因素造成無(wú)缺陷回波,從而影響對(duì)故障正確判別。在這種情況下,必須利用超聲波反射、折射、波形變換等原理對(duì)其進(jìn)行相應(yīng)校正,以實(shí)現(xiàn)對(duì)缺陷的準(zhǔn)確監(jiān)測(cè)。
2.3.3 TOFD法
TOFD法指焊縫缺陷監(jiān)測(cè)中通過(guò)測(cè)量缺陷上下兩端繞射波傳播時(shí)延差異,實(shí)現(xiàn)對(duì)焊縫缺陷定位和定量分析。因此,從另一方面來(lái)說(shuō),用缺陷上下兩端衍射波時(shí)間差異來(lái)進(jìn)行定量監(jiān)測(cè),通常被稱作TOFD。TOFD法是近年來(lái)國(guó)外許多工業(yè)領(lǐng)域廣泛采用先進(jìn)技術(shù),尤其是在信息技術(shù)飛速發(fā)展今天,TOFD法得到迅猛發(fā)展。利用TOFD法可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)自動(dòng)測(cè)試。它探測(cè)前端設(shè)備(掃描和探針)可做得很小,不僅能在焊接時(shí)候?qū)ぜM(jìn)行監(jiān)測(cè),且還能在使用中進(jìn)行檢驗(yàn)為工業(yè)應(yīng)用提供便利。另外,這種方法具有良好重現(xiàn)性可對(duì)缺陷發(fā)育進(jìn)行監(jiān)控。但在實(shí)際監(jiān)測(cè)中,TOFD方法在樣品上下都有探測(cè)盲區(qū),并且當(dāng)缺陷高度傾斜時(shí),縱向掃描難以探測(cè)到。因此,在實(shí)際檢驗(yàn)中TOFD法往往與其他無(wú)損技術(shù)相結(jié)合,以確保檢驗(yàn)精度與精度,例如,與脈沖反射法結(jié)合,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)焊縫缺陷監(jiān)測(cè)。目前TOFD法主要規(guī)范有英國(guó)BS7706和歐洲ENV583-6兩種。其監(jiān)測(cè)原理見圖2。
圖2 TOFD探傷原理圖
從圖2可以看出,具有相同頻率、角度和大小發(fā)射探測(cè)器和接收探測(cè)器以相等間隔布置在焊縫兩側(cè),發(fā)射探測(cè)器發(fā)出超聲波在樣品中傳播,并通過(guò)缺陷末端衍射波來(lái)監(jiān)測(cè)缺陷本身高度。在無(wú)缺陷處只會(huì)產(chǎn)生橫向和底部反射波形,而在缺陷處也會(huì)產(chǎn)生繞射波。因此,通過(guò)監(jiān)測(cè)曲線上各信號(hào)滯后,可以獲得缺陷深度和高度。
綜上所述,本文以超聲波探傷技術(shù)的發(fā)展及在機(jī)械設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測(cè)故障診斷中的應(yīng)用為研究方向,旨在為我國(guó)超聲波探傷技術(shù)在機(jī)械設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測(cè)故障診斷中的應(yīng)用提供理論指導(dǎo)與幫助。