李 剛
(延安大學 物理與電子信息學院, 陜西 延安 716000)
1988年,弱測量理論由Aharonov等[1]提出,通常被稱之為弱值放大機制。目前,弱測量已成為最有前途的精密測量工具之一,它已應用于各個研究領域,包括解決量子力學中的基礎問題[2-3]和解釋一些違反直覺的量子悖論[4]。在弱測量中,指針弱耦合到被測量的系統(tǒng)。與投影測量對比,若指針的初始波函數(shù)的寬度很大,則在弱測量中指針的輸出信號,指針觀測量的值會遠遠超出系統(tǒng)觀察量的特征值的范圍,這個結論歸因于指針的量子態(tài)疊加量子干涉效應。當被測量的系統(tǒng)發(fā)生接近正交的后選擇后,指針的兩個或多個稍微不同的平移高斯態(tài)的疊加[1,5]可以給出系統(tǒng)觀察量的值超出其特征值的范圍。最近發(fā)現(xiàn),弱測量可以幫助測量較小的物理量[6]或對較小的物理參數(shù)進行靈敏地估計[7-11],然而傳統(tǒng)技術很難直接檢測到它們。大多數(shù)弱測量方案都可以通過經(jīng)典波動力學來解釋[12]。此外,更多有關弱測量領域的評論可以參見文獻[13-14]。
盡管弱測量在光學領域被廣泛應用,但其在光力學領域的應用還不是很多[15-18]。筆者從相干態(tài)指針入手對量子弱測量放大進行詳細的討論,試圖找到有關弱測量的一種新放大機制,以及在結合弱測量的光機械系統(tǒng)中是否存在一些新穎量子效應。
文中使用馬赫曾德干涉儀模擬弱測量的方法研究光機械系統(tǒng)中弱測量放大效應。光機械系統(tǒng)裝置如圖1所示。
圖1 光機械系統(tǒng)裝置Fig. 1 Optomechanical system device
光機械腔A被放置在馬赫曾德干涉儀的一個臂上,并將常規(guī)光學腔B放置在干涉儀的另一個臂上。兩個分束器(BS)都是對稱的,整個系統(tǒng)的哈密頓量的表達式[15-17]為
(1)
ω0——光學腔模A、B的角頻率;
a1、a2——光學腔模A、B的湮滅算符;
b——角頻率為ωm的機械模的湮滅算符;
g——光機械耦合強度,g=ω0σ/L;
L——光學腔的長度;
M——機械振子的有效質量。
假設鏡子初態(tài)被制備在相干態(tài)|α〉m,α=|α|expiθ,其中|α|和θ都是實數(shù),分別稱之為相干態(tài)的振幅和相位[19]。經(jīng)式(1)的弱相互作用后,整個系統(tǒng)(被測系統(tǒng)和指針)的時間演化是與處于相干態(tài)的鏡子微弱相互作用之后,整個系統(tǒng)的狀態(tài)變?yōu)?/p>
|ψsm(t)〉 =U(t)|ψi〉|α〉m,
(2)
(3)
式中:φ(t)——克爾項的時間,φ(t)=k2(ωmt-sinωmt);
λ(t)——平移項的時間,λ(t)=k(1-e-iωmt);
k——縮小比例的光機械耦合參數(shù),k=g/ωm。
對式(3)進行簡化,得
(4)
式中:|ψ(λ,φ,t)〉——單光子作用的鏡子演化態(tài),|ψ(λ,φ,t)〉=eiφ(t)D(λ)|φ(t)〉m;
φ——無光子作用的鏡子演化態(tài),φ=αe-iωmt;
D(λ)——一個平移算符,D(λ)=exp[λb?-λ*b]。
當在暗口檢測到光子時,用弱測量語言來說后選擇發(fā)生,即對單光子系統(tǒng)進行了投影測量,投影算符|ψf〉〈ψf|,則鏡子的最終狀態(tài)變?yōu)?/p>
|Ψm(t)〉=〈ψf|ψsm(t)〉 =(|ψ(λ,φ,t)〉m-
|φ(t)〉m)/2,
(5)
為了進一步簡化分析,利用定義式 |χm(t)〉=D?(φ(t))|Ψm(t)〉,即平移等式(5)的態(tài)到相空間原點,獲得
|χm(t)〉=(exp[iφ(t)+iφ(α,t)]|ξ(t)〉m-|0〉m)/2,
(6)
其中,exp[iφ(t)+iφ(α,t)]是相干態(tài)|λ〉m和基態(tài)|0〉m之間的相對相位。而φ(α,t)=-i[(λφ*-λ*φ)]是通過兩個不同的平移算子非對易性質,
(7)
由式(7)可知,兩個鏡子態(tài)之間的相對相位是由量子力學中非對易性[20-21]引起的。文獻[15]中,正交后選擇發(fā)生后兩個鏡子態(tài)之間的相對相位可以導致弱測量放大效應。
將給出如何通過該相對相位exp[iφ(t)+iφ(α,t)]來產(chǎn)生鏡子微弱動量,類比于經(jīng)典動量等于質量乘以速度的放大。換一句話說,鏡子質量不變,速度能通過弱測量放大變快。
在弱測量中,鏡子(機械振子)上動量p的平均平移為
(8)
將式(6)代入式(8),得
(exp[iφ(t)+iφ(α,t)]λ(t)-exp·
[-(iφ(t)+iφ(α,t))]λ*(t))]/
[2σ(2-exp[-|λ(t))|2/2](exp[iφ(t)+
iφ(α,t)]+exp[-(iφ(t)+
iφ(α,t))])]。
(9)
圖2 鏡子的動量平均位移Fig. 2 Average momentum displacement mirror
接下來,分析相對相位是怎么使鏡子的微弱動量放大。
為了探討在ωmt=π附近發(fā)生的放大效應,對于式(6),在時間ωmt=π處進行泰勒展開,保留到第一階。假設|ωmt-π|?1和k?1,則
|χm(t)〉 ≈ [2k|1〉m+i2k|α|(2sinθ-
(ωmt-π)cosθ))|0〉m]/2。
(10)
文中僅考慮零溫條件下的耗散,因此,機械系統(tǒng)的主方程[21,23]為
c?cρ(t)-ρ(t)c?c]/2,
(11)
式中,γm——阻尼常數(shù)。
阻尼噪聲對鏡子放大效應的影響如圖3所示。通過式(11)給出光機械系統(tǒng)的耗散演化解析解或者數(shù)值解,與無耗散條件的式(9)進行對比可知,在零溫條件下阻尼噪聲對弱測量放大的影響。
圖3 阻尼噪聲對鏡子的放大效應影響Fig. 3 Influence of damping noise on amplification effect of mirror
文中所給的方案需要單光子源,并且它成功的選擇后概率非常低。眾所周知,制備理想單光子的條件非??量蹋?jīng)濟成本很高[25],這些方案[15,18]在單光子條件下是很難通過實驗驗證的。最近,利用弱相干光代替單光子的弱測量方案被提出[26],表明單光子情況下的微弱動量放大可以通過弱相干光來實現(xiàn),其成功的后選擇概率也變大,因此,這個方案在目前實驗條件下是可行的。根據(jù)量子力學不確定性原理,不可能同時測量鏡子的位置和動量。 但是,可以以任意精度測量機械運動的一個正交分量[27](例如動量)。這個方法可以用來完全重構機械振子量子態(tài),并使用量子態(tài)層析技術提取其威格納函數(shù)密度[28],從而給出相空間的動量分布。
(1)當鏡子處于相干態(tài)時,鏡子動量的平均平移的最大放大值可以在ωmt=π附近發(fā)生,并可達到基態(tài)的零點漲落,當鏡子處于基態(tài)時[1,5,7-11],不難發(fā)現(xiàn),放大效應不會出現(xiàn)。
(2)后選擇測量后,指針態(tài)之間的相對相位是由量子力學中非對易性引起的,這是一種弱測量放大的新機制,與標準弱測量放大機制不同[1,5],后者是通過對被測系統(tǒng)的后選擇(對被測系統(tǒng)進行投影測量)獲得相對相位。
文中所給的方案在目前實驗條件下是可行的實驗方案。這些結果不但擴展了弱測量在光學機械系統(tǒng)中的應用,也加深了人們對弱測量的理解。