劉軒,王越,吳義鵬
(南京航空航天大學(xué)航空學(xué)院,江蘇 南京 210006)
低功耗及自供電是物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代的發(fā)展主流。物聯(lián)網(wǎng)是互聯(lián)網(wǎng)絡(luò)與傳感器網(wǎng)絡(luò)的融合,通過(guò)各種傳感器實(shí)時(shí)采集信息并通過(guò)各類可能的網(wǎng)絡(luò)接入,實(shí)現(xiàn)物與物、物與人的泛在連接以及對(duì)物品和過(guò)程的智能化感知、識(shí)別和管理。感知層是物聯(lián)網(wǎng)的核心,通過(guò)傳感網(wǎng)絡(luò)獲取環(huán)境信息[1]。目前多數(shù)傳感器節(jié)點(diǎn)由電池[2]或外接電源供電[3],也有部分研究表明節(jié)點(diǎn)可通過(guò)收集周圍環(huán)境能量實(shí)現(xiàn)自供電,如太陽(yáng)能、機(jī)械振動(dòng)能、溫差能等。通常由環(huán)境能量供電的無(wú)線傳感器節(jié)點(diǎn)使用可充電電池[4—7]、超級(jí)電容[8—10]或混合采用[11—13]兩者來(lái)儲(chǔ)存能量。
盡管可充電電池容量高且泄漏率低,但其循環(huán)壽命會(huì)限制傳感器節(jié)點(diǎn)的壽命[8],充放電循環(huán)中的老化過(guò)程會(huì)導(dǎo)致電池容量逐漸降低、內(nèi)部電阻逐漸增加[14]。例如,鎳氫電池[5]和鋰離子電池[7]的循環(huán)壽命分別為500~800次和1 000~1 200次。超級(jí)電容具有更長(zhǎng)的循環(huán)壽命,一般超過(guò)50萬(wàn)次且充放電效率更高[9]。但超級(jí)電容的自放電特性也會(huì)導(dǎo)致存儲(chǔ)能量的損失和端電壓的下降,不利于低功耗自供電設(shè)備的電源管理,所以全面理解超級(jí)電容自放電的動(dòng)態(tài)特性,研究能夠準(zhǔn)確預(yù)測(cè)超級(jí)電容端電壓變化的模型非常重要。超級(jí)電容自放電過(guò)程可分成線性過(guò)程及非線性過(guò)程,端電壓線性下降階段可以用漏電流機(jī)理進(jìn)行解釋,而非線性部分則涉及到法拉第氧化還原機(jī)理和電荷再分配機(jī)理。在實(shí)際應(yīng)用中一般只考慮線性部分[15]。
超級(jí)電容的等效電路模型可模擬并預(yù)測(cè)自放電現(xiàn)象,其原理是用電路來(lái)等效超級(jí)電容的內(nèi)部結(jié)構(gòu),復(fù)雜度低且精度好。其中最簡(jiǎn)單的是標(biāo)準(zhǔn)R-C模型[16],但模擬性能并不理想。文獻(xiàn)[17]提出包含3個(gè)R-C支路的模型,考慮了電荷再分配及自放電現(xiàn)象,需要1種8個(gè)步驟的測(cè)試計(jì)算方法,且對(duì)測(cè)試精度要求很高。文獻(xiàn)[18]提出包含3個(gè)R-C支路及1個(gè)漏電阻的模型來(lái)模擬超級(jí)電容的自放電過(guò)程,對(duì)不同規(guī)格的超級(jí)電容分別作了研究,估算出了不同規(guī)格超級(jí)電容的模型參數(shù)。文獻(xiàn)[19—20]針對(duì)無(wú)線傳感器網(wǎng)絡(luò)中使用的超級(jí)電容提出了可變漏電阻(variable leakage resistance,VLR)模型,實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明VLR模型在預(yù)測(cè)超級(jí)電容自放電過(guò)程方面,精度比傳統(tǒng)三支路R-C模型高且更實(shí)用。
文中設(shè)計(jì)了基于超級(jí)電容器單體且可應(yīng)用于低功耗自供電設(shè)備的儲(chǔ)能模塊,參考VLR模型建立了該儲(chǔ)能模塊的等效VLR電路模型,分析了儲(chǔ)能模塊自放電現(xiàn)象并進(jìn)行端電壓變化預(yù)測(cè),最后通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了該模型的精確性。
對(duì)于采用高輸出阻抗的環(huán)境能量采集器,其電源管理單元一般選用降壓型的穩(wěn)壓器,使單元輸出如3.3 V,3.6 V之類的穩(wěn)定直流電壓。亞德諾半導(dǎo)體技術(shù)公司提供的電源管理芯片LTC3588-1可為上述應(yīng)用提供較完美的解決方案。LTC3588-1的最大輸入電壓為20 V,輸出電壓有1.8 V,2.5 V,3.3 V,3.6 V??紤]到儲(chǔ)能模塊可能的應(yīng)用范圍,文中采用中國(guó)臺(tái)灣CDA公司的CXHP系列額定電壓2.7 V,標(biāo)稱容量0.5 F的10個(gè)超級(jí)電容器單體串聯(lián)組成儲(chǔ)能模塊。其理論額定電壓27 V,標(biāo)稱容量0.05 F。但考慮到模塊的充放電壽命以及超級(jí)電容器單體一致性較差的問(wèn)題,為提高安全系數(shù),增加安全余量,該模塊的實(shí)際工作電壓不應(yīng)超過(guò)20 V。
實(shí)驗(yàn)原理如圖1所示,儲(chǔ)能模塊通過(guò)直流穩(wěn)壓電源進(jìn)行充電,臺(tái)式萬(wàn)用表采集儲(chǔ)能模塊電壓變化并通過(guò)USB接口與計(jì)算機(jī)相互通信。借助專門設(shè)計(jì)的用戶界面和相應(yīng)的測(cè)試程序,可以輕松地從計(jì)算機(jī)上獲得和觀察實(shí)驗(yàn)結(jié)果。與專用儀器相比,該設(shè)備測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)單方便、精度良好。文中儲(chǔ)能模塊相關(guān)參數(shù)的確定都基于此實(shí)驗(yàn)設(shè)備測(cè)量獲得。
圖1 實(shí)驗(yàn)原理Fig.1 Principle of the experiment
儲(chǔ)能模塊由超級(jí)電容器單體串聯(lián)組成,因此仍基于單體的VLR模型[19—20]來(lái)假設(shè)儲(chǔ)能模塊的自放電現(xiàn)象。如圖2所示,包含R1和C1的第一分支為主分支,微分電容C1是恒定電容C0和電壓相關(guān)電容KV·V的總和,主分支對(duì)超級(jí)電容的充放電行為產(chǎn)生即時(shí)響應(yīng),代表了充放電循環(huán)過(guò)程中短時(shí)間內(nèi)電壓的線性變化[17,21]。包含R2和C2的第二分支代表了自放電過(guò)程中長(zhǎng)期的電荷再分配現(xiàn)象[17,21]。包含可變漏電阻R3的第三分支代表了由漏電流主導(dǎo)的自放電過(guò)程,其值隨著自放電時(shí)間而變化[19—20]。VLR模型中主分支和第二分支中的5個(gè)參數(shù)R1,C0,KV,R2,C2可通過(guò)測(cè)量計(jì)算儲(chǔ)能模塊充電和電荷在分配過(guò)程的電壓變化特性曲線來(lái)獲得。
圖2 可變漏電阻模型Fig.2 The model of variable leakage resistance
圖3為直流穩(wěn)壓電源以0.01 A的恒定電流IC給儲(chǔ)能模塊充電時(shí),主支路的電壓變化圖。在充電過(guò)程中,假設(shè)所有的電流IC都只經(jīng)過(guò)主分支,剛接通充電電流IC的很短時(shí)間內(nèi)微分電容C1可以認(rèn)為是斷開(kāi)狀態(tài),此時(shí)電阻R1的電壓為ΔV,微分電容C1接通并開(kāi)始充電的很短時(shí)間內(nèi)主支路電壓變化速率會(huì)有所下降。
圖3 初始電壓變化量ΔV示意Fig.3 Schematic diagram of initial voltage variation ΔV
綜上所述,R1的值可以通過(guò)初始電壓變化量ΔV與充電電流IC的比值來(lái)確定,如式(1)所示。
R1=ΔV/IC
(1)
圖4為充電階段,使用直流穩(wěn)壓電源在200 s內(nèi)以恒定電流IC給儲(chǔ)能模塊充電至20 V后關(guān)閉電源,模塊內(nèi)部在接下來(lái)的1 000 s內(nèi)進(jìn)行電荷再分配的電壓時(shí)間關(guān)系曲線。因此,主分支的參數(shù)C0及KV可以通過(guò)式(2)確定[20]。
圖4 充電-電荷再分配狀態(tài)下儲(chǔ)能模塊電壓Fig.4 Voltage of energy storage module in charging-redistribution state
(2)
需要指出的是,P1,P2的選取應(yīng)盡可能多地覆蓋整個(gè)充電階段。確定主分支的參數(shù)后,就能確定第二分支的參數(shù)[21]。在電荷再分配階段,儲(chǔ)存在主分支中的部分電荷將重新分配到第二分支,如果第二分支的時(shí)間常數(shù)τ2=R2C2固定,則可認(rèn)為2個(gè)分支的電壓在3τ2時(shí)刻相等。根據(jù)此時(shí)儲(chǔ)能模塊的端電壓V2f,時(shí)間常數(shù)τ2預(yù)估為240 s,則C2可以通過(guò)式(3)確定[21],其中TC為充電階段的持續(xù)時(shí)間。
(3)
根據(jù)多次實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果,表1列出了文中所搭建的0.05 F儲(chǔ)能模塊VLR模型的主分支和第二分支的模型參數(shù)值。通過(guò)5組測(cè)試數(shù)據(jù)可以發(fā)現(xiàn),儲(chǔ)能模塊的相關(guān)參數(shù)測(cè)試結(jié)果一致性較好,能用于VLR模型的相關(guān)分析與計(jì)算。
表1 VLR模型中儲(chǔ)能模塊的相關(guān)參數(shù)值Table 1 Parameters of the energy storage module in VLR model
用于分析自放電過(guò)程的等效電路模型見(jiàn)圖5,電源移除后儲(chǔ)能模塊通過(guò)R3進(jìn)行自放電。R3隨自放電時(shí)間變化,電壓V3可通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量得到。
圖5 自放電分析等效電路Fig.5 The equivalent circuit of self-discharge analysis
使用直流穩(wěn)壓電源將儲(chǔ)能模塊充電至20 V,斷開(kāi)電源并在未來(lái)3 h內(nèi)測(cè)量?jī)?chǔ)能模塊開(kāi)路電壓,自放電過(guò)程中儲(chǔ)能模塊端電壓即V3的變化見(jiàn)圖6。
圖6 自放電狀態(tài)中儲(chǔ)能模塊電壓Fig.6 Voltage of energy storage module in self-discharge state
3個(gè)分支電流的關(guān)系可以通過(guò)基爾霍夫電流定律確定,如式(4)所示。
I3=-I1-I2
(4)
通過(guò)確定I3以及自放電期間測(cè)量得到的儲(chǔ)能模塊端電壓V3,可得R3為:
R3=V3/I3
(5)
其中,主分支電流I1計(jì)算如下:
(6)
微分電容C1上電壓V1與V3的關(guān)系為:
V1=V3-I1R1
(7)
第二分支電流I2及電壓V2的關(guān)系為:
(8)
V2=V3-I2R2
(9)
聯(lián)立式(4)—式(9),將建立自放電電流I3與R3之間的微分方程。這類微分方程較難獲得解析解,可采用Matlab/Simulink數(shù)值仿真軟件,利用ODE45求解器,獲得R3與V3之間的關(guān)系。求解過(guò)程中,應(yīng)首先獲得V3隨時(shí)間的變化關(guān)系。但在自放電過(guò)程初始階段,V3較大且下降較為明顯,計(jì)算得到的R3值無(wú)明顯波動(dòng)現(xiàn)象;而當(dāng)V3較低時(shí),其變化趨于平緩,此時(shí)由于測(cè)量電路噪聲影響,R3的波動(dòng)較為激烈。若測(cè)試得到下一時(shí)刻的V3值突然大于前一時(shí)刻值,R3值甚至將變?yōu)樨?fù)值,明顯無(wú)實(shí)際物理意義。針對(duì)該問(wèn)題,可通過(guò)設(shè)置V3在不同階段的實(shí)際采樣頻率或改變仿真步長(zhǎng)避免。
將儲(chǔ)能模塊3 h內(nèi)測(cè)得的電壓變化值V3作為輸入,仿真計(jì)算得到的R3阻值變化如圖7所示,在自放電期間,R3阻值前1 h內(nèi)從6 kΩ迅速增加到2 166 kΩ,在自放電進(jìn)行3 h后緩慢增加到2 979 kΩ。圖8為仿真得到的R3隨V3變化的關(guān)系曲線。V3從20 V降至18.78 V時(shí),可變漏電阻R3從6 kΩ迅速增加到100 kΩ;V3從18.78 V降低到18.36 V時(shí),R3從100 kΩ迅速增加至2 166 kΩ;V3從18.36 V降至17.89 V時(shí),R3從2 166 kΩ緩慢增加到2 979 kΩ。
圖7 R3與自放電時(shí)間的變化關(guān)系Fig.7 The relationship between R3 and self-discharge time
圖8 R3與儲(chǔ)能模塊電壓V3的關(guān)系Fig.8 The relationship between R3 and V3
為了更直觀地描述和分析R3與V3的關(guān)系并得到一個(gè)便于后續(xù)測(cè)試誤差修正或數(shù)學(xué)計(jì)算的結(jié)果,文中對(duì)R3進(jìn)行了分段線性擬合?;谶B續(xù)分段線性函數(shù)擬合思想,采用全局優(yōu)化算法找到最佳斷點(diǎn)位置,再針對(duì)不同的斷點(diǎn)位置使用最小二乘法擬合得到最終的分段函數(shù),如圖8和式(10)所示,R3分段線性擬合結(jié)果與實(shí)際仿真數(shù)據(jù)相吻合。
(10)
將圖5所示的VLR電路模型用于預(yù)測(cè)儲(chǔ)能模塊在自放電期間的電壓變化,由表1和式(10)可得該0.05 F儲(chǔ)能模塊的模型參數(shù)。圖9為該等效模型預(yù)測(cè)的超級(jí)電容電壓變化及實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果,可以明顯發(fā)現(xiàn),2種結(jié)果數(shù)據(jù)吻合良好。
圖9 自放電導(dǎo)致的實(shí)驗(yàn)電壓與其預(yù)測(cè)電壓Fig.9 Experimental and the calculated voltages caused by self-discharge phenomenon
文中首先搭建了一個(gè)基于超級(jí)電容器單體的儲(chǔ)能模塊,建立了用于研究模塊自放電現(xiàn)象的VLR模型,并對(duì)模型相關(guān)參數(shù)進(jìn)行了測(cè)試。借助實(shí)驗(yàn)測(cè)試獲得的儲(chǔ)能模塊自放電電壓數(shù)據(jù),采用數(shù)值仿真軟件計(jì)算得到模塊可變漏電阻值,同時(shí)對(duì)其進(jìn)行分段線性化擬合。研究結(jié)果可以計(jì)算預(yù)測(cè)基于超級(jí)電容器搭建的儲(chǔ)能模塊的自放電電壓,為后續(xù)供電設(shè)備的電源管理單元設(shè)計(jì)、功耗優(yōu)化甚至測(cè)試奠定了基礎(chǔ)。