于鳳丹 王俊怡

腦損傷是臨床的常見疾病, 多發(fā)于早產(chǎn)兒, 該病如果不及時(shí)給予治療, 會(huì)導(dǎo)致患兒智力發(fā)育不良、神經(jīng)發(fā)育遲緩、腦癱等各種后遺癥, 甚至還會(huì)導(dǎo)致患兒直接死亡［1］。近年來, 早產(chǎn)兒腦損傷的發(fā)生率逐年增加, 嚴(yán)重影響患兒的生命安全及生活質(zhì)量, 給患兒的家庭及社會(huì)帶來重大負(fù)擔(dān), 因此, 為了盡早診斷早產(chǎn)兒腦損傷, 避免后遺癥的發(fā)生, 及早對早產(chǎn)兒實(shí)施腦損傷監(jiān)測非常必要。本研究主要探討的是振幅整合腦電圖在早產(chǎn)兒腦損傷早期診斷中的臨床應(yīng)用價(jià)值,詳細(xì)報(bào)告如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料 選取2016年8月～2017年8月在本院住院接受治療的40例腦損傷早產(chǎn)兒(27～36周)作為研究組, 另選同期住院的50例無腦損傷早產(chǎn)兒(27～36周)作為對照組。納入標(biāo)準(zhǔn)：所有早產(chǎn)兒胎齡均在37周以內(nèi)；所有早產(chǎn)兒監(jiān)護(hù)人均對本次監(jiān)測知情, 并簽署知情同意書。排除標(biāo)準(zhǔn)：排除存在先天性畸形或有染色體變異等疾病的早產(chǎn)兒；排除不能順利完成監(jiān)測的早產(chǎn)兒。研究組早產(chǎn)兒均符合2012年早產(chǎn)兒腦損傷的診斷標(biāo)準(zhǔn)［2］, 其中 , 男 21 例 , 女 19 例 ；胎齡27～36 周 , 胎 齡 分 布 ：27～28 周 6 例 (15.0%), 29～30 周 8 例(20.0%), 31～33 周 11 例 (27.5%), 34～35 周 9 例 (22.5%), 36 周6例(15.0%)；出生體重(1790±292)g。對照組中男22例,女 28 例 ；胎齡 27～36 周 , 胎 齡分布 ：27～28 周 3 例 (6.0%),29～30 周 6 例 (12.0%), 31～33 周 15 例 (30.0%), 34～35 周 18 例(36.0%), 36周 8例 (16.0%)；出生體重 (1829±280)g。兩組早產(chǎn)兒的性別、胎齡、出生體重等一般資料比較差異無統(tǒng)計(jì)學(xué)意義 (P＞0.05), 具有可比性。

1.2 方法 兩組早產(chǎn)兒均采用振幅整合腦電圖進(jìn)行輔助檢查, 方法如下：對所有早產(chǎn)兒出生6 h內(nèi)采用美國Nicolet OneTM型腦電圖監(jiān)護(hù)儀對其進(jìn)行監(jiān)測, 監(jiān)測時(shí)間均不低于4 h。首先, 監(jiān)測前要清潔早產(chǎn)兒的頭部皮膚, 并常規(guī)去脂, 將導(dǎo)電膏涂抹好, 接通電源, 將儀器調(diào)節(jié)好, 按照國際通用的10/20系統(tǒng), 信號(hào)的采集點(diǎn)取兩邊中央?yún)^(qū)和定區(qū)部位的C3-C4、P3-P4導(dǎo)聯(lián)；選用專業(yè)的一次性電極片, 將其放在早產(chǎn)兒的雙頂骨位置, 保證兩個(gè)電極之間的距離在75 mm, 電極的參考位置在距離頭頂中央25 mm的額中線上。輸出速度定為6 cm/h, 單位μV。采用視頻監(jiān)測記錄所有早產(chǎn)兒的互動(dòng)情況及腦電活動(dòng)。

1.3 觀察指標(biāo)及判定標(biāo)準(zhǔn) 采用aEEG評(píng)分系統(tǒng)對aEEG圖形進(jìn)行判定分析, 兩組早產(chǎn)兒的aEEG評(píng)分系統(tǒng)結(jié)果均由同一腦電圖?？漆t(yī)師進(jìn)行評(píng)定分析, 主要對連續(xù)性電壓評(píng)估、睡眠覺醒周期、振幅下限值電壓大小、波譜帶電壓跨度4項(xiàng)進(jìn)行評(píng)分, 將各個(gè)參數(shù)的原始分相加得到總分, 為避免孕周不同導(dǎo)致的差異, 用相應(yīng)孕周早產(chǎn)兒總分的平均值與原始分相減得到校正總分［3］。校正總分越大表示aEEG異常更明顯［4］。胎齡不同早產(chǎn)兒的aEEG平均分分別為：27～28周6 分 , 29～30 周 8 分 , 31～33 周 10 分 , 34～35 周 11 分 , 36 周13分。見表1。

表1 早產(chǎn)兒aEEG評(píng)分系統(tǒng)

1.4 統(tǒng)計(jì)學(xué)方法 采用SPSS20.0統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。計(jì)量資料以均數(shù)±標(biāo)準(zhǔn)差(±s)表示, 采用t檢驗(yàn)；計(jì)數(shù)資料以率(%)表示, 采用χ2檢驗(yàn)。P＜0.05表示差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2 結(jié)果

研究組早產(chǎn)兒aEEG圖形校正總分為(0.9±1.1)分, 對照組早產(chǎn)兒aEEG圖形校正總分為(0.2±1.3)分, 研究組aEEG圖形校正總分明顯高于對照組, 差異具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P＜0.05)。

3 討論

胎兒早產(chǎn)是由胎盤早剝、妊娠期糖尿病、妊娠期高血壓、貧血等多種因素導(dǎo)致的, 早產(chǎn)兒出生時(shí)腦部組織發(fā)育不是很成熟, 很容易受到缺氧、缺血環(huán)境的影響, 從而導(dǎo)致其顱內(nèi)出血或腦白質(zhì)損傷, 使得早產(chǎn)兒的存活率明顯降低。因此,早期有效的監(jiān)測及診斷非常重要。臨床上傳統(tǒng)檢查早產(chǎn)兒腦損傷的方法主要是采用磁共振或顱腦超聲, 但早產(chǎn)兒的腦部通常發(fā)育不夠成熟, 再加上早產(chǎn)兒腦損傷沒有典型的臨床癥狀, 因此, 傳統(tǒng)的影像學(xué)不能早期確診早產(chǎn)兒腦損傷。近年來, 醫(yī)學(xué)技術(shù)不斷發(fā)展, 振幅整合腦電圖作為一種新興的腦損傷輔助檢查工具被廣泛應(yīng)用于臨床監(jiān)測中［5］。振幅整合腦電圖是傳統(tǒng)腦電圖的簡化形式, 主要是采用腦電信號(hào)振幅波來分析腦電波, 通過運(yùn)算可獲得更多的背景波形, 從而實(shí)現(xiàn)對腦功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控, 可直觀的反映腦功能的狀態(tài)。本研究中, 將本院出生的90例早產(chǎn)兒中40例腦損傷早產(chǎn)兒作為研究組, 50例無腦損傷早產(chǎn)兒作為對照組, 分別采用振幅整合腦電圖對早產(chǎn)兒有無腦損傷進(jìn)行輔助檢查, 監(jiān)測結(jié)果顯示,研究組早產(chǎn)兒aEEG圖形校正總分為(0.9±1.1)分, 對照組早產(chǎn)兒aEEG圖形校正總分為(0.2±1.3)分, 研究組aEEG圖形校正總分明顯高于對照組, 差異具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P＜0.05)。

綜上所述, aEEG監(jiān)測可以直觀準(zhǔn)確的觀察到早產(chǎn)兒腦功能的改變情況, 該方法操作簡單, 將其應(yīng)用于早產(chǎn)兒腦損傷的早期診斷中具有很高的臨床診斷價(jià)值, 可幫助醫(yī)生及時(shí)干預(yù)治療, 從而降低后遺癥的發(fā)生率, 值得臨床廣泛應(yīng)用。