2010年12期
刊物介紹
電子測(cè)試》雜志是以介紹最新電子技術(shù)和測(cè)試技術(shù)為主的科技月刊，在專業(yè)領(lǐng)域有一定影響力。其讀者群為國(guó)內(nèi)從事微電子行業(yè)和電子產(chǎn)品開發(fā)的科技人員，以及大專院校相關(guān)專業(yè)師生。 《電子制作》雜志創(chuàng)辦于199...
電子測(cè)試
設(shè)計(jì)與研發(fā)
微處理器與可編程器件應(yīng)用
測(cè)試工具與解決方案
- 一種ZBT SRAM接口控制器的設(shè)計(jì)
- 基于ED限制濾波的測(cè)距研究
- 井下側(cè)向環(huán)形光源強(qiáng)度控制方法研究與實(shí)現(xiàn)★
- 基于DM9000A的存儲(chǔ)裝置的設(shè)計(jì)
- 大容量存儲(chǔ)中NAND Flash壞塊的管理方法★
- 高動(dòng)態(tài)環(huán)境下的彈載導(dǎo)航計(jì)算機(jī)設(shè)計(jì)
- 基于有限狀態(tài)機(jī)的1553B總線解碼器設(shè)計(jì)
- 高采樣頻率彈載加速度測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
- 綠色通信網(wǎng)的設(shè)計(jì)分析